注冊 | 登錄讀書好，好讀書，讀好書！
讀書網-DuShu.com
當前位置： 首頁出版圖書科學技術工業(yè)技術無線電電子學、電信技術半導體器件及電路的可靠性與退化

半導體器件及電路的可靠性與退化

半導體器件及電路的可靠性與退化

定　價：￥16.40

作　者： （英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主編；李錦林等譯
出版社： 科學出版社
叢編項：
標　簽： 電路
ISBN： 9787030011640 出版時間： 1989-01-01 包裝：
開本： 21cm 頁數： 463頁 字數：  

內容簡介

　　本書闡述了用硅、砷化鎵及磷化銦等材料制作的雙極型晶體管，場效應晶體管、發(fā)光二極管、半導體激光器以及微波集成電路等各種半導體器件和電路的可靠性和退化 問題。

作者簡介

暫缺《半導體器件及電路的可靠性與退化》作者簡介

圖書目錄

暫缺《半導體器件及電路的可靠性與退化》目錄

本目錄推薦

掃描二維碼
Copyright ? 讀書網 leeflamesbasketballcamps.com 2005-2026, All Rights Reserved.
鄂ICP備15019699號 鄂公網安備 42010302001612號