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半導體器件及電路的可靠性與退化

半導體器件及電路的可靠性與退化

定　價：￥16.40

作　者： （英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主編；李錦林等譯
出版社： 科學出版社
叢編項：
標　簽： 電路
ISBN： 9787030011640 出版時間： 1989-01-01 包裝：
開本： 21cm 頁數(shù)： 463頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書闡述了用硅、砷化鎵及磷化銦等材料制作的雙極型晶體管，場效應晶體管、發(fā)光二極管、半導體激光器以及微波集成電路等各種半導體器件和電路的可靠性和退化 問題。

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