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納米器件空間輻射效應(yīng)

納米器件空間輻射效應(yīng)

定 價:¥198.00

作 者: 陳偉等
出版社: 科學(xué)出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787030786104 出版時間: 2025-01-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  航天器運行所處的宇宙空間環(huán)境中存在大量射線粒子,這些粒子會在航天器電子器件中產(chǎn)生空間輻射效應(yīng),導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能下降、狀態(tài)改變,甚至功能失效,影響航天器使用壽命及在軌可靠運行。航天器功能和性能要求越來越高,高可靠性、高集成度、高性能、低功耗納米電子器件的空間應(yīng)用前景廣闊。納米器件趨于物理極限的材料、工藝和結(jié)構(gòu)特點對空間輻射效應(yīng)產(chǎn)生顯著影響。本書主要介紹納米器件空間輻射效應(yīng)基本概念和研究現(xiàn)狀、納米器件所用材料的輻射損傷微觀表征、納米器件空間輻射效應(yīng)新機理及可靠性、輻射損傷在納米電路中的傳播機制和加固方法、空間輻射效應(yīng)重離子模擬試驗技術(shù)等內(nèi)容。

作者簡介

  主持國家自然科學(xué)基金重大項目,納米器件輻射效應(yīng)機理及模擬試驗關(guān)鍵技術(shù)

圖書目錄

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