現(xiàn)代光學測試技術

定　價：￥49.00

作　者：	吳泉英, 孫文卿, 王軍, 馬駿, 主編
出版社：	江蘇大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787568421195	出版時間：	2024-08-01	包裝：	平裝-膠訂
開本：	16開	頁數(shù)：		字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　光學測試技術是利用光學方法測量光學量與非光學量的一門應用技術的學科。它的內(nèi)容隨著科學技術和工藝水平的發(fā)展，變得越來越豐富。當代的電子技術、激光技術、傳感器技術以及計算機技術日新月異，并且快速的應用到光學測量領域中，使得現(xiàn)代光學測試技術早已成為一門多領域交叉融合的綜合學科。本書主要內(nèi)容：首先介紹了光學測量的基本知識；然后介紹了光學測量的常見方法與系統(tǒng)；最后介紹了各類光學特性參數(shù)以及多種幾何量的測試方法。本書主要聚焦于生產(chǎn)和科研實踐中最常用的光學測量手段，介紹它們的原理與應用。本書旨在向?qū)W生和研究人員介紹各種光學測量技術的理論和實踐。