目錄第1章 庫 11.1 標準單元 21.2 晶體管尺寸 101.3 輸入/輸出PAD 131.4 庫參數化 191.5 總結 25參考文獻 27第2章 布局規(guī)劃 292.1 技術文件 302.2 電路描述 322.3 設計約束 352.4 設計規(guī)劃 372.5 PAD布局 392.6 電源規(guī)劃 422.7 宏模塊布局 442.8 時鐘規(guī)劃 482.9 總結 50參考文獻 52第3章 布局 533.1 全局布局 543.2 局部布局 603.3 時鐘樹綜合 663.4 功耗分析 733.5 總結 75參考文獻 77第4章 布線 794.1 特殊布線 804.2 全局布線 814.3 詳細布線 874.4 寄生參數提取 924.5 總結 104參考文獻 106第5章 驗證 1075.1 功能驗證 1085.2 時序驗證 1105.3 物理驗證 1255.4 總結 128參考文獻 130第6章 測試 1316.1 功能測試 1336.2 掃描測試 1366.3 邊界掃描測試 1386.4 故障測試 1406.5 參數測試 1416.6 電流和極低電壓測試 1426.7 晶圓驗收測試 1446.8 存儲器內建自測試 1466.9 并聯模塊測試 1486.10 總結 148參考文獻 151
鄂公網安備 42010302001612號 