ASIC物理設(shè)計(jì)要點(diǎn)

定　價(jià)：￥58.00

作　者：	（美）霍斯魯·戈?duì)柹街?；崔志穎譯
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787030754974	出版時(shí)間：	2023-06-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《ASIC物理設(shè)計(jì)要點(diǎn)》旨在闡述ASIC物理設(shè)計(jì)所需的基本步驟，方便讀者了解ASIC設(shè)計(jì)的基本思想。《ASIC物理設(shè)計(jì)要點(diǎn)》以行業(yè)通用ASIC物理設(shè)計(jì)流程順序進(jìn)行編排，從ASIC庫(kù)的一般概念開(kāi)始，依次介紹布局、布線、驗(yàn)證及測(cè)試，涵蓋的主題包括基本標(biāo)準(zhǔn)單元設(shè)計(jì)、晶體管尺寸和布局風(fēng)格、設(shè)計(jì)約束和時(shí)鐘規(guī)劃、用于布局的算法、時(shí)鐘樹(shù)綜合、用于全局和詳細(xì)布線的算法、寄生參數(shù)提取、功能驗(yàn)證、時(shí)序驗(yàn)證、物理驗(yàn)證、并聯(lián)模塊測(cè)試等。與直接闡述深層次的技術(shù)不同，《ASIC物理設(shè)計(jì)要點(diǎn)》重點(diǎn)放在簡(jiǎn)短、清晰的描述上，抓住物理設(shè)計(jì)的本質(zhì)，向讀者介紹物理設(shè)計(jì)工程的挑戰(zhàn)性和多樣化領(lǐng)域。

作者簡(jiǎn)介

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圖書(shū)目錄

目錄第1章庫(kù) 11.1 標(biāo)準(zhǔn)單元 21.2 晶體管尺寸 101.3 輸入/輸出PAD 131.4 庫(kù)參數(shù)化 191.5 總結(jié) 25參考文獻(xiàn) 27第2章布局規(guī)劃 292.1 技術(shù)文件 302.2 電路描述 322.3 設(shè)計(jì)約束 352.4 設(shè)計(jì)規(guī)劃 372.5 PAD布局 392.6 電源規(guī)劃 422.7 宏模塊布局 442.8 時(shí)鐘規(guī)劃 482.9 總結(jié) 50參考文獻(xiàn) 52第3章布局 533.1 全局布局 543.2 局部布局 603.3 時(shí)鐘樹(shù)綜合 663.4 功耗分析 733.5 總結(jié) 75參考文獻(xiàn) 77第4章布線 794.1 特殊布線 804.2 全局布線 814.3 詳細(xì)布線 874.4 寄生參數(shù)提取 924.5 總結(jié) 104參考文獻(xiàn) 106第5章驗(yàn)證 1075.1 功能驗(yàn)證 1085.2 時(shí)序驗(yàn)證 1105.3 物理驗(yàn)證 1255.4 總結(jié) 128參考文獻(xiàn) 130第6章測(cè)試 1316.1 功能測(cè)試 1336.2 掃描測(cè)試 1366.3 邊界掃描測(cè)試 1386.4 故障測(cè)試 1406.5 參數(shù)測(cè)試 1416.6 電流和極低電壓測(cè)試 1426.7 晶圓驗(yàn)收測(cè)試 1446.8 存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試 1466.9 并聯(lián)模塊測(cè)試 1486.10 總結(jié) 148參考文獻(xiàn) 151