大維均值向量和協(xié)方差矩陣的檢驗

定　價：￥42.00

作　者：	張秋妍著
出版社：	中國統(tǒng)計出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

購買這本書可以去

京東 (￥38.10)

ISBN：	9787503796296	出版時間：	2021-09-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	120	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　多元統(tǒng)計分析是農(nóng)學、醫(yī)學、工程學、氣象學、地質(zhì)學、心理學等眾多科學的問題的基本研究方法之一，在生產(chǎn)及實際生活中有重要的應用價值。隨著計算機技術的飛速發(fā)展和人們收集到的數(shù)據(jù)維數(shù)據(jù)分析是，會有較大且不能容忍的誤差。因此，大維構(gòu)架下的統(tǒng)計問題與統(tǒng)計方法的研究迫在眉睫。假設檢驗中的均值向量檢驗以及方差齊次性檢驗是統(tǒng)計分析中的一個重要問題。本書建立了相應的統(tǒng)計量，提出了大維構(gòu)架下均值向量以及協(xié)方差矩陣齊次性檢驗的優(yōu)越的檢驗方法。

作者簡介

暫缺《大維均值向量和協(xié)方差矩陣的檢驗》作者簡介

圖書目錄

第1章均值向量的檢驗背景
1.1 均值檢驗背景介紹
1.2 隨機矩陣解決辦法
第2章一個總體均值向量檢驗的RIHT統(tǒng)計量的極限理論
2.1 恰四階矩定理與RIHT的中心極限定
2.2 RIHT統(tǒng)計量檢驗的模擬
第3章均值向量檢驗相關定理證明
3.1 定理2.1.1的證明
3.2 定理2.1.3的證明
第4章協(xié)方差矩陣檢驗背景介紹
4.1 問題背景
4.2 隨機矩陣解決辦法
第5章修正的Log—LRT統(tǒng)計量以及修正的對數(shù)函數(shù)統(tǒng)計量
5.1 修正的Log—LRT統(tǒng)計量的提出以及處理方法
5.2 修正的對數(shù)統(tǒng)計量的提出及處理方法
5.3 修正的Log—LRT以及修正的對數(shù)函數(shù)統(tǒng)計量的表現(xiàn)
5.4 四階矩估計
第6章修正的Pillai跡統(tǒng)計量以及修正的跡統(tǒng)計量
6.1 Pillai跡統(tǒng)計量的修正
6.2 修正的跡統(tǒng)計量的提出與處理方法
6.3 修正的Pillai跡統(tǒng)計量以及修正的跡統(tǒng)計量的表現(xiàn)
第7章實際數(shù)據(jù)的應用
第8章協(xié)方差矩陣檢驗定理相關證明
8.1 定理5.1.1和定理5.2.1的證明
8.2 定理5.4.1的證明
8.3 定理6.1.1的證明
8.4 定理6.2.1的證明
參考文獻