納米級系統(tǒng)芯片單粒子效應研究

目錄
前言
第1章 緒論 1
1.1 集成電路發(fā)展方向 1
1.2 國家航天技術發(fā)展的需求 2
1.3 單粒子效應的嚴重威脅 3
1.4 SoC單粒子效應研究現(xiàn)狀 6
1.4.1 國外研究現(xiàn)狀 6
1.4.2 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 11
1.5 本書研究內(nèi)容 13
第2章 SoC α粒子單粒子效應實驗研究 15
2.1 SoC α粒子單粒子效應實驗設計 15
2.1.1 SoC器件 15
2.1.2 Xilinx Zynq-7000 SoC單粒子效應測試系統(tǒng) 17
2.2 SoC α粒子單粒子效應實驗 21
2.2.1 實驗測試硬件系統(tǒng) 22
2.2.2 SoC α粒子單粒子效應測試流程 23
2.3 實驗結(jié)果及分析 24
2.3.1 單粒子效應截面 24
2.3.2 軟錯誤率計算 25
2.3.3 實驗結(jié)果分析 26
2.4 本章小結(jié) 31
第3章 SoC重離子單粒子效應實驗研究 32
3.1 IMP重離子微束輻照實驗 32
3.1.1 IMP重離子微束輻照裝置 32
3.1.2 IMP SoC重離子微束單粒子效應測試系統(tǒng) 33
3.1.3 IMP SoC重離子微束單粒子效應測試方案 35
3.1.4 IMP SoC重離子微束單粒子效應測試結(jié)果 36
3.2 HI-13重離子微束輻照實驗 38
3.2.1 HI-13重離子微束輻照裝置 38
3.2.2 HI-13重離子微束SoC單粒子效應測試方案 40
3.2.3 HI-13重離子微束SoC單粒子效應測試結(jié)果 43
3.3 重離子寬束輻照實驗 45
3.4 本章小結(jié) 52
第4章 SoC質(zhì)子和中子單粒子效應研究 53
4.1 SoC質(zhì)子單粒子效應實驗研究 54
4.1.1 低能質(zhì)子實驗研究 54
4.1.2 中能質(zhì)子實驗研究 55
4.2 SoC中子單粒子效應實驗研究 58
4.2.1 10MeV和1MeV以上中子單粒子效應 61
4.2.2 熱中子單粒子效應貢獻 62
4.3 SoC質(zhì)子和中子單粒子效應蒙特卡羅仿真分析 63
4.4 本章小結(jié) 66
第5章 SoC單粒子效應軟件故障注入研究 67
5.1 Xilinx Zynq-7000 SoC軟件故障注入系統(tǒng) 67
5.1.1 SoC軟件故障注入方法 67
5.1.2 Xilinx Zynq-7000 SoC軟件故障注入系統(tǒng)設計 71
5.2 Xilinx Zynq-7000 SoC軟件故障注入測試 74
5.2.1 故障注入流程 74
5.2.2 故障注入結(jié)果分析 75
5.3 本章小結(jié) 80
第6章 基于Verilog HDL SoC模擬故障注入研究 81
6.1 模擬故障注入技術原理 81
6.2 SoC模擬故障注入系統(tǒng) 83
6.2.1 故障注入?yún)?shù)設置 84
6.2.2 故障注入仿真 86
6.2.3 實驗結(jié)果分析 88
6.3 基于Verilog HDL SoC模擬故障注入系統(tǒng)設計 91
6.3.1 路徑設置 92
6.3.2 故障注入?yún)?shù)設置 92
6.3.3 控制輸出 93
6.3.4 故障注入流程 94
6.4 OR 1200故障注入 96
6.4.1 OR1200結(jié)構(gòu)分析 96
6.4.2 故障注入方案 98
6.4.3 故障注入結(jié)果分析 99
6.5 本章小結(jié) 105
第7章 SoC軟錯誤故障分析 106
7.1 概率安全分析 106
7.1.1 故障樹分析法 106
7.1.2 事件樹分析法 108
7.1.3 SoC軟錯誤故障樹分析 109
7.1.4 SoC軟錯誤事件樹分析 113
7.2 應用FMEA方法評估SoC軟錯誤 118
7.2.1 SoC軟錯誤可靠性評估 118
7.2.2 SoC風險評估 119
7.3 本章小結(jié) 122
第8章 基于貝葉斯網(wǎng)絡的SoC單粒子效應故障診斷 124
8.1 貝葉斯網(wǎng)絡方法 124
8.1.1 貝葉斯網(wǎng)絡理論基礎 124
8.1.2 貝葉斯網(wǎng)絡推理 125
8.1.3 構(gòu)建二態(tài)貝葉斯網(wǎng)絡 126
8.2 OR1200 SEU貝葉斯網(wǎng)絡構(gòu)建 129
8.2.1 OR1200 SEU故障樹 129
8.2.2 OR1200 SEU貝葉斯網(wǎng)絡 131
8.3 Xilinx Zynq-7000 SoC貝葉斯網(wǎng)絡故障診斷 138
8.3.1 Xilinx Zynq-7000 SoC后驗概率 138
8.3.2 Xilinx Zynq-7000 SoC重要度分析 139
8.4 SoC單粒子效應故障診斷系統(tǒng)模型 140
8.5 本章小結(jié) 144
第9章 SoC控制流錯誤檢測和故障定位 145
9.1 基于結(jié)構(gòu)化標簽的控制流錯誤檢測 145
9.1.1 控制流錯誤檢測研究現(xiàn)狀 145
9.1.2 可配置控制流錯誤檢測方法 146
9.1.3 執(zhí)行過程分析 148
9.1.4 實驗結(jié)果分析 150
9.2 基于二分圖極大權(quán)值匹配的SoC故障定位 151
9.2.1 故障定位相關研究 152
9.2.2 基于二分圖的SoC故障定位方法 153
9.2.3 實驗結(jié)果分析 157
9.3 本章小結(jié) 159
第10章 SoC軟件加固方法研究 160
10.1 SoC OCM模塊的加固設計 160
10.1.1 SoC OCM模塊三模冗余加固 161
10.1.2 SoC OCM的協(xié)同加固 163
10.2 SoC DMA通道冗余加固方法 165
10.2.1 SoC DMA硬件故障源分析 165
10.2.2 SoC DMA通道冗余加固方法基本原理 167
10.2.3 SoC DMA通道冗余加固方法的設計 168
10.2.4 SoC DMA通道加固方法的實現(xiàn) 172
10.2.5 實驗結(jié)果分析 176
10.3 其他加固方法 179
10.4 本章小結(jié) 180
參考文獻 181