乏信息可靠性分析

定　價：￥120.00

作　者：	夏新濤
出版社：	科學出版社
叢編項：
標　簽：	電子通信工業(yè)技術(shù) 一般性問題

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ISBN：	9787030549969	出版時間：	2017-11-01	包裝：	平裝
開本：	B5	頁數(shù)：	340	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書主要論述乏信息可靠性評估與預測方法，主要內(nèi)容包括：乏信息可靠性分析的基本概念、二參數(shù)Weibull分布可靠性評估、三參數(shù)Weibull分布可靠性評估與假設檢驗、失效數(shù)據(jù)的可靠性模型評估、無失效數(shù)據(jù)的可靠性預測、制造過程的可靠性評估、機械產(chǎn)品的品質(zhì)實現(xiàn)可靠性評估、性能數(shù)據(jù)驅(qū)動的可靠性演變過程預測等。