雷達目標散射特性測量與處理技術(shù)

　　目標RCS測量、處理和評估貫穿于隱身裝備設(shè)計、研制、試驗和使用維護的各個階段?！独走_目標散射特性測量與處理技術(shù)》在對RCS測量與處理技術(shù)領(lǐng)域公開文獻資料進行歸納和分析的同時，重點對作者所在實驗室近年來在該領(lǐng)域的基礎(chǔ)理論、實驗和應(yīng)用性研究成果進行了系統(tǒng)的總結(jié)，尤其是對國內(nèi)外現(xiàn)有文獻鮮有涉及而工程實用價值又較高的新模型、新方法和新技術(shù)進行了討論。全書一半以上的篇幅用于闡述作者所在實驗室的理論和技術(shù)研究成果。全書共分為8章，首先建立目標寬帶散射函數(shù)和散射分布函數(shù)的概念，然后圍繞可探測目標的RCS測試場和寬帶成像診斷測量技術(shù)問題進行討論，主要包括：RCS測試場和寬帶相參測量雷達、低散射目標支架設(shè)計方法、新型RCS定標體與定標處理技術(shù)、背景輔助測量與提取技術(shù)、目標高分辨率診斷成像技術(shù)、極化校準測量與處理技術(shù)，以及RCS數(shù)據(jù)的處理、評估與報告等?！独走_目標散射特性測量與處理技術(shù)》可供從事低可探測目標設(shè)計實驗、目標與環(huán)境特性、雷達目標散射現(xiàn)象學、武器系統(tǒng)仿真等技術(shù)領(lǐng)域的廣大研究人員、工程技術(shù)人員和部隊官兵參考，也可作為相關(guān)院校教師和研究生的教學與研究參考書。

　　許小劍，1963年生，江西萬安人。1983年合肥工業(yè)大學獲無線電技術(shù)專業(yè)工學學士，1986年航天部二院獲電磁場與微波技術(shù)專業(yè)工學碩士，1994年英國帝國理工學院高級訪問學者，2002年美國內(nèi)布拉斯加大學獲博士學位。2002年以前在北京環(huán)境特性研究所從事科研和科研管理工作，2003年起任北京航空航天大學電子信息工程學院教授、博導。長期從事國防科學技術(shù)領(lǐng)域研究工作，主要研究方向包括遙感特征建模、分析與處理，雷達成像、圖像理解與目標識別等。獲國家科技進步二等獎1項，部級科技進步一等獎2項、二等獎4項、三等獎1項；國務(wù)院政府特殊津貼專家、航天總公司有突出貢獻專家。合作出版專著與教材5部，發(fā)表學術(shù)論文260余篇，其中SCI和EI檢索約200篇，授權(quán)發(fā)明專利30余件。