無(wú)損檢測(cè)導(dǎo)論（第二版）

定　價(jià)：￥50.00

作　者：	夏紀(jì)真著
出版社：	中山大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787306057419	出版時(shí)間：	2016-08-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	233	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)結(jié)合作者本人多年從事無(wú)損檢測(cè)技術(shù)生產(chǎn)第一線工作、科研與技術(shù)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，對(duì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的定義、技術(shù)原理、應(yīng)用簡(jiǎn)介及質(zhì)量控制等方面作了詳細(xì)的介紹，力圖對(duì)工業(yè)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)作盡可能全面的綜合與系統(tǒng)化整理。本書(shū)側(cè)重于實(shí)際應(yīng)用，可以作為相關(guān)本科與大專(zhuān)專(zhuān)業(yè)課程教材，也可作為各領(lǐng)域無(wú)損檢測(cè)技術(shù)人員的參考工具書(shū)，對(duì)于報(bào)考無(wú)損檢測(cè)技術(shù)資格等級(jí)的人員也有重要的參考價(jià)值。

作者簡(jiǎn)介

　　夏紀(jì)真，男，廣州人。高級(jí)工程師。現(xiàn)任北京理工大學(xué)珠海學(xué)院應(yīng)用物理（無(wú)損檢測(cè)方向）本科專(zhuān)業(yè)教授，中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)專(zhuān)業(yè)委員會(huì)教育培訓(xùn)科普工作委員會(huì)委員、《無(wú)損探傷》雜志特邀編委等。專(zhuān)長(zhǎng)于無(wú)損檢測(cè)，尤其在超聲波檢測(cè)方面有較高造詣。發(fā)表論文30多篇、譯文30多篇，編寫(xiě)教材和專(zhuān)著10多本。從事科研課題數(shù)十項(xiàng)，開(kāi)發(fā)新產(chǎn)品9項(xiàng)。

圖書(shū)目錄

第一章無(wú)損檢測(cè)的定義與目的
1.1 無(wú)損檢測(cè)的定義
1.2 無(wú)損檢測(cè)的目的
1.2.1 產(chǎn)品制造中的質(zhì)量控制
1.2.2 產(chǎn)品的質(zhì)量鑒定
1.2.3 在役檢測(cè)
1.2.4 無(wú)損評(píng)價(jià)
1.3 無(wú)損檢測(cè)的本質(zhì)
1.4 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用對(duì)象與應(yīng)用范疇
1.5 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的起源與發(fā)展
1.5.1 世界無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的起源與發(fā)展過(guò)程
1.5.2 我國(guó)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展
第二章無(wú)損檢測(cè)技術(shù)原理及其應(yīng)用簡(jiǎn)介
2.1 利用聲學(xué)特性的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)（利用機(jī)械振動(dòng)波的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)）
2.1.1 超聲波檢測(cè)技術(shù)
2.1.2 聲發(fā)射檢測(cè)技術(shù)
2.1.3 聲振檢測(cè)技術(shù)
2.1.4 聲全息法
2.1.5 超聲頻譜分析法（ultrasonic spectral analysis）
2.1.6 超聲波計(jì)算機(jī)層析掃描技術(shù)（聲波層析成像技術(shù)、超聲波CT）
2.1.7 激光超聲檢測(cè)
2.1.8 利用振動(dòng)波的殘余應(yīng)力測(cè)試
2.2 利用電、磁和電磁特性的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
2.2.1 磁粉檢測(cè)
2.2.2 漏磁檢測(cè)
2.2.3 巴克豪森噪聲分析
2.2.4 渦流檢測(cè)（eddy-current testing，ET）
2.2.5 金屬材料渦流分選技術(shù)
2.2.6 金屬材料電磁分選技術(shù)
2.2.7 遠(yuǎn)場(chǎng)渦流檢測(cè)技術(shù)
2.2.8 渦流陣列檢測(cè)技術(shù)
2.2.9 脈沖渦流檢測(cè)技術(shù)
2.2.10 渦流法覆層厚度測(cè)量
2.2.11 磁性法覆層厚度測(cè)量（電磁法測(cè)厚）
2.2.12 電流擾動(dòng)檢測(cè)技術(shù)
2.2.13 磁光渦流成像檢測(cè)
2.2.14 磁測(cè)（應(yīng)力）法
2.2.15 電位法檢測(cè)
2.2.16 交流電磁場(chǎng)檢測(cè)
2.2.17 介電法
2.2.18 電容法
2.2.19 渦流-聲（電磁-超聲）檢測(cè)技術(shù)
2.2.20 微波檢測(cè)
2.2.21 探地雷達(dá)
2.2.22 太赫茲波檢測(cè)
2.2.23 微波斷層成像技術(shù)
2.2.24 電磁層析成像
2.2.25 金屬探測(cè)器
2.2.26 金屬磁記憶檢測(cè)
2.2.27 核磁共振
2.2.28 里氏硬度測(cè)量
2.3 利用放射性輻射特性的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
2.3.1 射線照相檢測(cè)
2.3.2 數(shù)字化X射線照相檢測(cè)
2.3.3 計(jì)算機(jī)輔助層析掃描射線檢測(cè)技術(shù)
2.3.4 中子射線照相檢測(cè)
2.3.5 中子活化分析
2.3.6 X射線熒光分析
2.3.7 β射線反向散射法
2.3.8 輻射測(cè)厚
2.3.9 放射性氣體吸附檢測(cè)
2.3.10 穆斯堡爾譜分析
2.3.11 正電子湮滅技術(shù)（PAT）
2.3.12 X射線表面殘余應(yīng)力測(cè)試技術(shù)
2.4 利用熱學(xué)特性的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
2.4.1 熱圖像法（紅外檢測(cè)）
2.4.2 紅外熱波無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
2.4.3 熱圖法
2.4.4 熱電法
2.4.5 液晶無(wú)損檢測(cè)
2.5 利用滲透現(xiàn)象的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
2.5.1 著色滲透檢驗(yàn)的基本檢驗(yàn)程序
2.5.2 熒光滲透檢驗(yàn)的基本檢驗(yàn)程序
2.5.3 過(guò)濾微粒法檢驗(yàn)
2.5.4 光折射滲透檢測(cè)
2.6 利用光學(xué)特性的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
2.6.1 激光全息照相檢測(cè)
2.6.2 激光散斑干涉技術(shù)
2.6.3 激光電子散斑剪切技術(shù)
2.6.4 紫外成像技術(shù)
2.6.5 目視檢測(cè)
2.6.6 熒光測(cè)溫
2.7 泄漏檢測(cè)技術(shù)（leak testing，LT）
2.8 結(jié)束語(yǔ)
第三章無(wú)損檢測(cè)人員的技術(shù)資格鑒定與認(rèn)證
3.1 對(duì)無(wú)損檢測(cè)人員技術(shù)資格鑒定與認(rèn)證的理由
3.2 對(duì)無(wú)損檢測(cè)人員技術(shù)資格鑒定與認(rèn)證的要求
3.2.1 分類(lèi)與職責(zé)
3.2.2 無(wú)損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證的報(bào)考條件
3.2.3 無(wú)損檢測(cè)人員的資格鑒定考試
3.2.4 無(wú)損檢測(cè)人員資格的證書(shū)有效期
第四章無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的組織管理、質(zhì)量控制與技術(shù)經(jīng)濟(jì)分析
4.1 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的組織管理
4.2 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的質(zhì)量控制與管理
4.3 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的經(jīng)濟(jì)管理
4.3.1 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的經(jīng)濟(jì)意義
4.3.2 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)費(fèi)用的經(jīng)濟(jì)核算
主要參考文獻(xiàn)