單板級JTAG測試技術(shù)

定　價：￥58.00

作　者：	王承，劉治國
出版社：	國防工業(yè)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787118099867	出版時間：	2015-06-01	包裝：
開本：	32開	頁數(shù)：	205	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　《單板級JTAG測試技術(shù)》是一本系統(tǒng)論述單板級JTAG測試技術(shù)的專著。內(nèi)容包括：基于IEEEl149．1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描測試、可測性設(shè)計和測試功能及串行測試矢量；內(nèi)建自測試和仿真測試；基于IEEEl687標(biāo)準(zhǔn)的集成電路測試技術(shù)發(fā)展趨勢。《單板級JTAG測試技術(shù)》適合于從事集成電路開發(fā)的工程技術(shù)人員閱讀，對于電子測量、通信工程和電路系統(tǒng)學(xué)科的學(xué)生，也有一定的參考作用。

作者簡介

　　王承，1976生，江蘇揚州人，博士?，F(xiàn)任職于中興通訊股份有限公司，主要從事單板級JTAG測試技術(shù)的研發(fā)、推廣和生產(chǎn)應(yīng)用工作。研究方向：集成電路測試、模式識別、人工智能和故障診斷等。劉治國，1977生，湖南益陽人，碩士?，F(xiàn)任職于工業(yè)和信息化部電子第五研究所，主要從事元器件檢測和試驗工作。研究方向：集成電路可靠性評價和電子元器件檢測技術(shù)。

圖書目錄

第1章測試的基本概念
1.1 數(shù)字電路測試
1.1.1 測試
1.1.2 測試分類
1.1.3 數(shù)字電路分類
1.2 故障及故障模型
1.3 算法
1.4 測試覆蓋率和故障檢出率
1.5 測試矢量
1.5.1 組合電路的測試矢量生成
1.5.2 時序電路的測試矢量生成
1.6 可測性
1.6.1 可控性
1.6.2 可觀性
1.6.3 可測性設(shè)計方法
第2章單板級.ITAG測試
2.1 背景介紹
2.2 傳統(tǒng)單板測試方法的困難
2.2.1 在線測試
2.2.2 光學(xué)測試
2.2.3 功能測試
2.3 生產(chǎn)制造應(yīng)用
2.4 JTAG測試技術(shù)
2.5 單板級JTAG測試
……
第3章 IEEE1149.X標(biāo)準(zhǔn)
第4章單板級邊界掃描可測性設(shè)計
第5章邊界掃描測試技術(shù)應(yīng)用
第6章串行矢量格式
第7章內(nèi)建自測試技術(shù)
第8章片上仿真測試
第9章嵌入測試
參考文獻