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原子光譜分析基礎與應用

原子光譜分析基礎與應用

定 價:¥60.00

作 者: 汪正 編
出版社: 上??茖W技術出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787547824085 出版時間: 2015-01-01 包裝: 精裝
開本: 32開 頁數(shù): 292 字數(shù):  

內容簡介

  《原子光譜分析基礎與應用》介紹了原子光譜分析的基本原理、儀器結構和應用實例,內容包括原子吸收光譜分析、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析和電感耦合等離子體質譜分析三個方面。第1章至第4章介紹了原子光譜分析的歷史,原子吸收光譜分析、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜和電感耦合等離子體質譜分析儀器的結構原理、分析性能以及分析中的干擾及其校正等。第5章至第10章介紹了原子光譜分析技術在各個領域的應用,包括水環(huán)境、地質、土壤、大氣顆粒物、無機非金屬材料和高純材料的應用實例等。《原子光譜分析基礎與應用》可供具備一定原子光譜學和材料科學、生物學及地質、礦業(yè)、化工、建材、微電子和環(huán)境等專業(yè)知識的高等院校和科研院所的教師、科研人員和研究生參閱,也可供從事原子光譜分析應用和分析測試機構的分析人員和管理人員參閱,尤其適合那些計劃到環(huán)境科學、材料化學、化學化工、冶金、地質等各種領域中從事原子光譜分析的研究人員和分析人員閱讀和參考。

作者簡介

暫缺《原子光譜分析基礎與應用》作者簡介

圖書目錄

第1章 概述1.1 原子光譜分析簡介1.1.1 原子吸收光譜分析1.1.2 電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析1.1.3 電感耦合等離子體質譜分析1.2 原子光譜中一些常見術語
第2章 原子吸收光譜分析2.1 儀器基本結構2.1.1 光源2.1.2 原子化系統(tǒng)2.1.3 分光系統(tǒng)2.1.4 光路系統(tǒng)2.1.5 檢測系統(tǒng)2.2 儀器性能2.2.1 火焰原子吸收光譜分析2.2.2 石墨爐原子吸收光譜分析2.3 干擾及其校正2.3.1 FAAS中的干擾及其校正2.3.2 GFAAS中的干擾及其校正
第3章 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析3.1 儀器基本結構3.1.1 進樣系統(tǒng)3.1.2 光源3.1.3 氣路系統(tǒng)3.1.4 射頻發(fā)生器3.1.5 分光(色散)系統(tǒng)3.1.6 檢測系統(tǒng)3.2 ICP炬焰的形成與機理3.2.1 ICP炬焰的形成3.2.2 ICP炬焰結構3.2.3 ICP激發(fā)機理3.2.4 ICP的分析特性3.3 儀器性能3.3.1 分析靈敏度3.3.2 檢出限3.3.3 精密度3.4 干擾及其校正3.4.1 物理干擾及其校正3.4.2 化學干擾及其校正3.4.3 電離干擾及其校正3.4.4 背景干擾及其校正
第4章 電感耦合等離子體質譜分析4.1 儀器基本結構4.1.1 進樣系統(tǒng)4.1.2 ICP離子源4.1.3 接口部分4.1.4 真空系統(tǒng)4.1.5 離子透鏡4.1.6 質量分析器4.1.7 離子檢測系統(tǒng)4.2 儀器特性4.3 干擾及其校正4.3.1 非質譜干擾4.3.2 質譜干擾4.3.3 解決質譜干擾的途徑
第5章 原子光譜分析在水環(huán)境元素檢測中的應用5.1 概述5.2 樣品的預處理5.2.1 樣品的采集5.2.2 樣品的預處理與儲存5.3 質量控制方法5.3.1 實驗室分析質量控制流程5.3.2 標準參照物5.3.3 質量控制圖的繪制5.3.4 ICP-MS水標準方法5.4 分析應用實例5.4.1 飲用水分析5.4.2 海水分析5.4.3 預富集一原子吸收光譜分析法測定水中Cr形態(tài)
第6章 原子光譜分析在土壤重金屬元素檢測中的應用6.1 概述6.2 土壤樣品預處理及消解6.2.1 酸體系的選擇6.2.2 消解方法選擇6.3 分析應用實例6.3.1 AAS測定土壤中銅、鋅、鉛、鎘6.3.2 ICP-AES測定酒鬼酒生態(tài)工業(yè)園區(qū)土壤中6種重金屬元素6.3.3 ICP-MS檢測不同種植制度下土壤中重金屬含量
第7章 原子光譜分析在地質礦產勘探檢測中的應用7.1 概述7.2 地質樣品預處理及消解7.2.1 堿熔法消解地質樣品7.2.2 酸溶法消解地質樣品7.3 分析應用實例7.3.1 AAS測定地質樣品中的銀7.3.2 ICP-AES法同時測定地質樣品中Cu-Pb-Zn-Sc-Mo7.3.3 ICP-MS應用于稀土、稀散以及鈮、鉭、鋯、鉿等多元素分析。7.3.4 ICP-MS應用于鉑族元素分析7.3.5 ICP-MS同時測定地質樣品中40多種微量、痕量、超痕量元素7.3.6 LA-ICP-MS在單個流體包裹體元素化學組成分析中的應用
第8章 原子光譜分析在大氣環(huán)境顆粒物分析中的應用8.1 概述8.1.1 大氣顆粒物的理化性質8.1.2 大氣顆粒物的環(huán)境標準8.1.3 大氣顆粒物中的元素分析8.2 大氣顆粒物樣品預處理及消解8.2.1 樣品的采集8.2.2 樣品的制備8.2.3 樣品的消解8.3 分析應用實例8.3.1 AAS應用于大氣顆粒物的分析實例8.3.2 ICP-AES應用于大氣顆粒物的分析實例8.3.3 ICP-MS應用于大氣顆粒物的分析實例
第9章 原子光譜分析在無機非金屬材料測定中的應用9.1 概述9.2 試樣分解9.3 分析應用實例9.3.1 AAS測定氮化硅陶瓷材料中的鈣、鎂和鐵9.3.2 ICP-AES測定碳化硅中雜質元素9.3.3 ICP-AKS測定碳化硼中痕量雜質元素9.3.4 ICP-AES同時測定高純石英砂中硼和磷含量9.3.5 ICP-MS測定鎳鈷錳三元素氫氧化物中鉛
第10章 原子光譜分析在高純材料雜質元素檢測中的應用10.1 概述10.2 高純材料純度分析污染控制10.2.1 大氣污染的控制10.2.2 實驗器具污染的控制10.2.3 試劑的控制10.2.4 制備過程中需要避免的其他污染10.3 高純材料檢測實例10.3.1 高純碲的檢測10.3.2 高純氧化鋁的檢測10.3.3 高純氧化鉍、氧化鍺的檢測10.3.4 高純試劑的分析
附錄Ⅰ FAAS和GFAAS的典型特征濃度和檢出限Ⅱ ICP-AES分析線與檢出限Ⅲ 天然同位素表Ⅳ ICP-QMS多原子離子干擾匯總表

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