當(dāng)代光學(xué)計(jì)量測(cè)試技術(shù)概論

第1章 緒論
1.1 計(jì)量學(xué)的內(nèi)涵
1.2 計(jì)量學(xué)的特點(diǎn)
1.2.1 計(jì)量學(xué)的基本特點(diǎn)
1.2.2 國(guó)防計(jì)量的特點(diǎn)
1.3 計(jì)量基準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)的基本概念
1.4 傳統(tǒng)計(jì)量量值傳遞存在的不足
1.5 量子計(jì)量基準(zhǔn)
1.5.1 量子計(jì)量基準(zhǔn)的基本概念
1.5.2 21世紀(jì)的量子計(jì)量基準(zhǔn)
1.6 光學(xué)計(jì)量測(cè)試的研究范疇
1.7 光學(xué)計(jì)量測(cè)試的發(fā)展趨勢(shì)
1.8 光度學(xué)和光輻射計(jì)量基準(zhǔn)的發(fā)展和演變
1.8.1 光度學(xué)基準(zhǔn)的發(fā)展與演變
1.8.2 光輻射基準(zhǔn)的發(fā)展與演變
1.9 常規(guī)計(jì)量與非常規(guī)量限計(jì)量
1.1 0非常規(guī)量限光學(xué)計(jì)量的需求
1.1 1非常規(guī)量限光學(xué)計(jì)量的內(nèi)容
1.1 2誤差與測(cè)量不確定度
1.1 2.1 測(cè)量誤差
1.1 2.2 測(cè)量不確定度
參考文獻(xiàn)

第2章 光學(xué)量子計(jì)量基礎(chǔ)
2.1 量子光學(xué)基本概念
2.2 光子的基本性質(zhì)
2.3 光子的簡(jiǎn)并度
2.4 激光技術(shù)基礎(chǔ)知識(shí)
2.4.1 受激輻射與量子躍遷
2.4.2 激光器的組成
2.4.3 激光的基本特性
2.4.4 常用激光器件
2.5 激光與計(jì)量基準(zhǔn)
2.5.1 激光與長(zhǎng)度單位米的新定義
2.5.2 激光與時(shí)間單位--秒
2.5.3 激光與質(zhì)量自然基準(zhǔn)
2.5.4 激光與基本物理常數(shù)的測(cè)量
2.5.5 激光在未來計(jì)量科學(xué)中的應(yīng)用
2.6 光子有關(guān)名詞術(shù)語
參考文獻(xiàn)

第3章 雙光子相關(guān)計(jì)量技術(shù)
3.1 雙光子相關(guān)技術(shù)概述
3.2 自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換
3.2.1 非線性光學(xué)現(xiàn)象
3.2.2 非線性光學(xué)材料
3.2.3 光學(xué)非線性波長(zhǎng)變換技術(shù)
3.3 自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換雙光子在計(jì)量學(xué)中的應(yīng)用
3.3.1 用自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換雙光子測(cè)量探測(cè)器量子效率
3.3.2 雙光子相關(guān)測(cè)量探測(cè)器量子效率的影響因素分析
3.3.3 用自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換雙光子測(cè)量紅外光源輻射功率
3.3.4  用相干可見光子絕對(duì)測(cè)量紅外輻射量的理論推導(dǎo)
參考文獻(xiàn)

第4章 單光子探測(cè)技術(shù)
4.1 光電探測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)
4.1.1 光電效應(yīng)
4.1.2 光電效應(yīng)與光電探測(cè)器
4.2 單光子探測(cè)器
4.2.1 單光子探測(cè)器的原理及種類
4.2.2 光電倍增管單光子探測(cè)器
4.2 ，3雪崩光電二極管單光子探測(cè)器
4.2.4 真空雪崩光電二極管單光子探測(cè)器
4.2.5  增強(qiáng)光電二極管單光子探測(cè)器
4.2.6 頻率上轉(zhuǎn)換單光子探測(cè)器
4.3 超導(dǎo)單光子探測(cè)技術(shù)
4.3.1 超導(dǎo)臨界相變單光子探測(cè)技術(shù)
4.3.2 利用超導(dǎo)臨界電流密度實(shí)現(xiàn)的單光子探測(cè)技術(shù)
4.4 光子數(shù)分辨探測(cè)技術(shù)
4.4.1 光子數(shù)分辨探測(cè)原理與分類
4.4.2 越界超導(dǎo)傳感光子數(shù)分辨技術(shù)
4.4.3 利用電荷積分探測(cè)器進(jìn)行光子數(shù)分辨
4.4.4 利用雪崩光電二極管單光子探測(cè)技術(shù)進(jìn)行光子數(shù)分辨
4.5 單光子源
4.5.1 單光子源及其應(yīng)用
4.5.2 單光子發(fā)射
4.5.3 發(fā)光二極管衰減單光子源
4.5.4 激光二極管單光子源
4.5.5 量子點(diǎn)單光子源
4.5.6 下參量單光子源
4.6 單光子探測(cè)器主要參數(shù)的校準(zhǔn)與檢測(cè)
4.6.1 單光子探測(cè)器主要技術(shù)指標(biāo)
4.6.2 單光子探測(cè)器的絕對(duì)量子標(biāo)定
4.6.3 單光子探測(cè)器計(jì)數(shù)性能檢測(cè)
4.6.4 單光子探測(cè)器暗計(jì)數(shù)的檢測(cè)
4.6.5 單光子探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)量
4.6.6 單光子探測(cè)器的線性度測(cè)量
參考文獻(xiàn)

第5章 光子計(jì)數(shù)技術(shù)
5.1 概述
5.2 光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)
5.2.1 光子計(jì)數(shù)的工作原理
5.2.2 基本光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)
5.2.3 補(bǔ)償源光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)
5.2.4 背景補(bǔ)償光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)
5.3 利用光子計(jì)數(shù)技術(shù)的弱光度測(cè)量
5.3.1 光通量與光子速率
5.3.2 光通量與光電子速率
5.3.3 光電子速率和微照度的測(cè)量
5.3.4 光子計(jì)數(shù)微弱光自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)
5.3.5  建立在光子計(jì)數(shù)基礎(chǔ)上的弱光度標(biāo)準(zhǔn)
5.4 光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)的標(biāo)定
5.4.1  用光照度平方反比定律法校準(zhǔn)線性度
5.4.2 使用發(fā)光二板管校準(zhǔn)線性度
5.4.3 光子計(jì)數(shù)器的輻射定標(biāo)
5.5 時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)
5.5.1 時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)原理
5.5.2 時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)組成
5.6 時(shí)間分辨光子計(jì)數(shù)
5.7 光子計(jì)數(shù)技術(shù)應(yīng)用實(shí)例
5.7.1 三代微光信噪比校準(zhǔn)用弱光光源照度校準(zhǔn)
5.7.2 光子計(jì)數(shù)技術(shù)在微脈沖激光測(cè)距中的應(yīng)用
5.7.3  光子計(jì)數(shù)技術(shù)在激光脈沖探測(cè)中的應(yīng)用
5.7.4 皮秒時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)光譜儀
參考文獻(xiàn)

第6章 單光子成像計(jì)量測(cè)試技術(shù)
6.1 光電成像技術(shù)基礎(chǔ)
6.1.1 光電成像原理
6.1.2 光電成像系統(tǒng)中的核心部件
6.2 單光子計(jì)數(shù)成像原理
6.2.1 間接型探測(cè)系統(tǒng)
6.2.2 直接型探測(cè)系統(tǒng)
6.3 單光子成像技術(shù)的特點(diǎn)及性能表征
6.3.1 單光子成像技術(shù)的特點(diǎn)
6.3.2 單光子計(jì)數(shù)成像的性能表征
6.4 光電成像核心部件性能測(cè)試
6，4.1 光陰極性能測(cè)試
6.4.2 微通道板性能測(cè)試
6.4.3 光纖面板性能測(cè)試
6.5 光子計(jì)數(shù)成像系統(tǒng)性能測(cè)試
6.5.1 光子計(jì)數(shù)像管等效背景照度測(cè)試
6.5.2 光子計(jì)數(shù)像管光子增益測(cè)試
6.5.3 光子計(jì)數(shù)像管暗計(jì)數(shù)測(cè)試
6.5.4 光子計(jì)數(shù)像管輸出信噪比的測(cè)量
6.5.5 光子計(jì)數(shù)像管調(diào)制傳遞函數(shù)的測(cè)量
6.5.6 光子計(jì)數(shù)像管分辨力的測(cè)量
6.5.7 楔條形陽極光子計(jì)數(shù)探測(cè)器成像性能的檢測(cè)
6.6 單光子成像系統(tǒng)的標(biāo)定
6.6.1 可見光系統(tǒng)的標(biāo)定
6.6.2 紫外系統(tǒng)的標(biāo)定
參考文獻(xiàn)

第7章 長(zhǎng)度的量子計(jì)量
7.1 米和米的最新定義
7.2 貫徹執(zhí)行米的新定義
7.3 實(shí)現(xiàn)米定義的穩(wěn)頻激光器
7.3.1 穩(wěn)頻激光和參考譜線
7.3.2 激光穩(wěn)頻技術(shù)
7.3.3 抑制譜線加寬和穩(wěn)頻激光器
7.4 穩(wěn)頻激光器的頻率測(cè)量
……
第8章 時(shí)間頻率的量子計(jì)量
第9章 納米計(jì)量測(cè)試技術(shù)
第10章 真空紫外和極紫外計(jì)量測(cè)試
第11章 高能激光計(jì)量測(cè)試技術(shù)
第12章 超短脈沖激光時(shí)間特性測(cè)量
第13章 大型光學(xué)元件和系統(tǒng)參數(shù)計(jì)量測(cè)試
第14章 微型光學(xué)元件性能測(cè)試
第15章 高反射光學(xué)薄膜高反射比測(cè)量
第16章 大尺寸光學(xué)材料參數(shù)計(jì)量測(cè)試技術(shù)