現(xiàn)代材料分析測(cè)試技術(shù)

定　價(jià)：￥28.00

作　者：	管學(xué)茂，王慶良，王慶平等編
出版社：	中國(guó)礦業(yè)大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：	高等教育"十二五"規(guī)劃教材
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787564617455	出版時(shí)間：	2013-02-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	305	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《高等教育“十二五”規(guī)劃教材：現(xiàn)代材料分析測(cè)試技術(shù)》以無(wú)機(jī)非金屬和金屬材料常用的x射線衍射分析、電子顯微分析和熱分析基本測(cè)試方法為主要內(nèi)容，輔以紅外光譜分析和核磁共振分析及用于表面分析的光電子能譜分析。在本書(shū)的編寫(xiě)過(guò)程中，以面向應(yīng)用為主，盡量簡(jiǎn)化（甚至去除深?yuàn)W的理論推導(dǎo)）理論深度，采用以應(yīng)用實(shí)例傳遞知識(shí)，增加理解，以達(dá)到易學(xué)易用的目的。同時(shí)，注重與分析測(cè)試技術(shù)的前沿發(fā)展相結(jié)合，在分析測(cè)試方法應(yīng)用方面采用了科研工作中的大量實(shí)際問(wèn)題作為案例。由于學(xué)時(shí)有限。對(duì)于繁多的材料分析與測(cè)試技術(shù)和各種分析測(cè)試技術(shù)的多種應(yīng)用，材料專業(yè)的本科生不可能在有限的學(xué)時(shí)內(nèi)掌握所有內(nèi)容，因此本教材以本科生培養(yǎng)目標(biāo)為準(zhǔn)則。介紹各種分析測(cè)試技術(shù)的基本理論、基本方法與基本技能，重點(diǎn)放在分析測(cè)試技術(shù)最常用的分析測(cè)試方法的應(yīng)用方面。《高等教育“十二五”規(guī)劃教材：現(xiàn)代材料分析測(cè)試技術(shù)》可作為高等院校材料專業(yè)本科教材，還可作為研究生、材料工作者的入門(mén)參考用書(shū)。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《現(xiàn)代材料分析測(cè)試技術(shù)》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

第1章 X射線衍射
1.1 前言
1.2 X射線基礎(chǔ)
1.3 多晶X射衍射儀器
1.4 多晶自動(dòng)X射線衍射儀
1.5 多晶X射線衍射儀實(shí)驗(yàn)技術(shù)
1.6 粉末衍射方法的應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第2章掃描電子顯微鏡
2.1 掃描電鏡的發(fā)展
2.2 掃描電鏡的工作原理
2.3 掃描電鏡的形貌和原子序數(shù)襯度
2.4 掃描電子顯微鏡在材料分析中的應(yīng)用
2.5 電子探針顯微分析技術(shù)及應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第3章透射電子顯微鏡
3.1 透射電子顯微鏡的成像原理與結(jié)構(gòu)
3.2 透射電鏡的操作與成像方式
3.3 電子衍射原理與衍射花樣的標(biāo)定
3.4 衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)簡(jiǎn)介
3.5 晶體缺陷分析
3.6 試樣要求與制備方法
參考文獻(xiàn)
第4章熱分析方法
4.1 概述
4.2 差熱分析
4.3 差示掃描量熱分析
4.4 熱重法
4.5 熱分析技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)
參考文獻(xiàn)
第5章紅外吸收光譜分析
5.1 基本原理
5.2 實(shí)驗(yàn)技術(shù)
5.3 紅外吸收光譜圖
5.4 各類(lèi)化合物的紅外光譜特征
5.5 紅外光譜法的應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第6章核磁共振波譜法
6.1 核磁共振波譜法的發(fā)展與應(yīng)用
6.2 核磁共振基本原理
6.3 化學(xué)位移
6.4 自旋一自旋偶合
6.5 核磁共振氫譜
6.6 核磁共振碳譜
6.7 固體核磁共振
參考資料
第7章光電子能譜
7.1 引言
7.2 X射線光電子能譜的基本原理
7.3 X射線光電子能譜儀
7.4 x射線光電子能譜的應(yīng)用實(shí)例
參考文獻(xiàn)
第8章綜合應(yīng)用與分析
8.1 醫(yī)用CoCrMo合金表面離子氮化層分析實(shí)例
8.2 水泥基復(fù)合材料應(yīng)用分析測(cè)試技術(shù)實(shí)例
8.3 sic顆粒增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料sic顆粒體積分?jǐn)?shù)的測(cè)定