粉末多晶X射線衍射技術原理及應用

第1章 衍射計算中常用的晶體學表示方法
1.1 晶系
1.2 晶體的對稱性
1.3 點群(對稱類型)
1.4 布拉格點陣
1.5 空間群
第2章 X射線物理基礎
2.1 X射線的產(chǎn)生及性質(zhì)
2.2 X射線衍射原理
2.3 倒易矢量、倒易點陣及反射球
2.4 粉晶X射線衍射
第3章 X射線衍射方法
3.1 粉晶衍射儀法
3.2 其他X射線衍射儀
第4章 X射線衍射數(shù)據(jù)
4.1 衍射峰位的確定方法
4.2 衍射線峰形
4.3 X射線衍射強度
4.4 衍射線分離
第5章 計算機在多晶體衍射中的應用
5.1 實驗譜的基本處理
5.2 實驗數(shù)據(jù)的分析與應用
5.3 相關機構、網(wǎng)站、數(shù)據(jù)庫
第6章 X射線物相分析
6.1 定性相分析
6.2 定量相分析
第7章 X射線的小角度散射
7.1 X射線小角度散射原理
7.2 X射線小角度散射實驗
7.3 X射線小角度散射的應用
第8章 晶體點陣常數(shù)的精確測量
8.1 原理
8.2 德拜-謝樂法的系統(tǒng)誤差
8.3 衍射儀法的主要誤差
8.4 晶體點陣常數(shù)的精確測定
8.5 非立方晶系晶體點陣常數(shù)的精確測定
8.6 應用同步輻射源
第9章 材料結晶度的計算
9.1 無機礦物結晶度測定方法
9.2 聚合物材料結晶度
9.3 晶體粒度大小及比表面積的測定
第10章 宏觀應力的測定
10.1 彈性應力和應變的關系
10.2 X射線測定表面應力
10.3 應用衍射儀測定應力的方法
10.4 X射線應力測量舉例及若干實際問題
第11章 X射線衍射結構分析的Rietveld法
11.1 Rietveld法概述
11.2 Rietveld法的基本原理
11.3 Rietveld法修正晶體結構策略
11.4 修正過程常出現(xiàn)的問題和對策
11.5 Rietveld法的應用
第12章 X射線多晶體衍射的應用實例
12.1 冶金和機械工業(yè)
12.2 地球和采礦工業(yè)
12.3 生物和醫(yī)藥工業(yè)
12.4 能源
12.5 陶瓷和建材工業(yè)
12.6 功能材料、玻璃
12.7 復合材料物相鑒定
12.8 粉末晶體結構分析
12.9 晶粒度及晶格應變的測定
參考文獻