近代物理測試技術

第一章 誤差分析與數(shù)據(jù)處理
1.1 測量誤差與不確定度
1.2 物理量測量中常見的統(tǒng)計分布
1.3 直接測量結果及其隨機誤差的估計
1.4 實驗結果的不確定度
1.5 測量結果的質(zhì)量評價與非精度測量
1.6 最小二乘法和曲線擬合
1.7 系統(tǒng)誤差的發(fā)現(xiàn)和消除
第二章 光信息處理
2.0引言
實驗2.1 空間頻譜與空間濾波
實驗2.2 光學信號的抽樣與還原
實驗2.3 光柵濾波圖像相加、相減
實驗2.4 光學位相濾波
實驗2.5 θ調(diào)制等空間假彩色編碼
實驗2.6 全息光柵的研究與制作
第三章 原子物理
3.0引言
實驗3.1 夫蘭克-赫茲實驗
實驗3.2 塞曼效應
實驗3.3 基本電荷的測量
實驗3.4 激光喇曼光譜實驗
第四章 原子核物理
4.0引言
實驗4.1 用閃爍譜儀測γ射線能譜
實驗4.2 用快速電子驗證相對論效應
實驗4.3 康普頓散射
實驗4.4 符合測量
實驗4.5 實物對β射線的吸收和β射線能量的測量
第五章 微波實驗
5.0引言
實驗5.1 微波測試系統(tǒng)的認識與調(diào)試
實驗5.2 測量線調(diào)整和晶體定標
實驗5.3 微波衰減測量
第六章 磁共振技術
6.0引言
實驗6.1 核磁共振
實驗6.2 微波段電子順磁共振
實驗6.3 光泵磁共振
第七章 聲學實驗技術
7.0引言
實驗7.1 超聲波無損探傷實驗
實驗7.2 聲光調(diào)制特性實驗研究
第八章 光電技術
實驗8.1 數(shù)字信號光纖傳輸技術
實驗8.2 電光調(diào)制特性實驗研究
實驗8.3 磁光調(diào)制特性實驗研究
實驗8.4 光學信號相關與信號識別
實驗8.5 CCD陣列的主要特性參數(shù)
實驗8.6 光電探測器光譜響應度測量
實驗8.7 光電信號的二值化及其應用
第九章 微弱信號檢測技術
9.0引言
實驗9.1 單光子計數(shù)實驗
實驗9.2 鎖定放大實驗
實驗9.3 用電容-電壓法測量半導體中的雜質(zhì)分布
實驗9.4 光學多道分析器的應用
第十章 傳感技術
10.0引言
實驗10.1 電渦流傳感器位移實驗
實驗10.2 被測體材質(zhì)對電渦流傳感器特性影響實驗
實驗10.3 被測體面積大小對電渦流傳感器的特性影響實驗
實驗10.4 直流激勵的非接觸式霍爾位移傳感器單／雙向特性實驗
實驗10.5 霍爾轉(zhuǎn)速傳感器測速實驗
第十一章 低溫物理實驗及其他
11.0 引言
實驗11.1 高溫超導轉(zhuǎn)變溫度測量
實驗11.2 低溫下固體熱導率的測定
實驗11.3 磁電阻效應實驗
參考文獻