現(xiàn)代光學(xué)計(jì)量與測試

第1章 緒論1
1.1 光學(xué)計(jì)量測試的研究范疇與發(fā)展歷程1
1.2 光學(xué)計(jì)量測試技術(shù)的發(fā)展趨勢2
1.3 計(jì)量學(xué)主要名詞術(shù)語4
第2章 光輻射計(jì)量與測試6
2.1 光輻射計(jì)量的基本物理量6
2.2 實(shí)現(xiàn)光輻射絕對測量的主要途徑7
2.2.1 黑體輻射源7
2.2.2 低溫輻射計(jì)11
2.2.3 硅光電二極管自校準(zhǔn)技術(shù)16
2.2.4 雙光子相關(guān)技術(shù)17
2.2.5 同步輻射源20
2.3 光輻射標(biāo)準(zhǔn)22
2.3.1 光譜輻亮度和輻照度標(biāo)準(zhǔn)22
2.3.2 中溫黑體輻射源標(biāo)準(zhǔn)裝置28
2.3.3 面源黑體校準(zhǔn)32
2.3.4 低溫黑體校準(zhǔn)39
2.3.5 以同步輻射源為基礎(chǔ)的紫外輻射標(biāo)準(zhǔn)40
2.4 紅外熱像儀參數(shù)計(jì)量測試43
2.4.1 紅外熱像儀概述43
2.4.2 紅外熱像儀評價參數(shù)44
2.4.3 紅外熱像儀參數(shù)測量裝置46
2.4.4 紅外熱像儀調(diào)制傳遞函數(shù)測量48
2.4.5 紅外熱像儀噪聲等效溫差測量49
2.4.6 紅外熱像儀最小可分辨溫差測量51
2.4.7 紅外熱像儀最小可探測溫差測量53
2.4.8 紅外熱像儀信號傳遞函數(shù)測量54
2.4.9 紅外熱像儀參數(shù)測量裝置的溯源與校準(zhǔn)55
2.5 材料發(fā)射率測量60
2.5.1 材料發(fā)射率測量概述60
2.5.2 半球積分發(fā)射率測量61
2.5.3 法向光譜發(fā)射率測量63
2.6 紅外目標(biāo)模擬器校準(zhǔn)65
2.6.1 紅外目標(biāo)模擬器校準(zhǔn)概述66
2.6.2 紅外目標(biāo)模擬器校準(zhǔn)裝置66
2.6.3 紅外目標(biāo)模擬器校準(zhǔn)數(shù)學(xué)模型67
2.6.4 紅外目標(biāo)模擬器校準(zhǔn)方法69
2.7 紅外光譜輻射計(jì)校準(zhǔn)73
2.7.1 紅外光譜輻射計(jì)概述73
2.7.2 紅外光譜輻射計(jì)校準(zhǔn)方法76
2.7.3 紅外光譜輻射計(jì)校準(zhǔn)過程78
2.8 瞬態(tài)光輻射源參數(shù)測量與校準(zhǔn)81
2.8.1 瞬態(tài)光及其評價參數(shù)81
2.8.2 瞬態(tài)光譜測量82
2.8.3 瞬態(tài)有效光強(qiáng)測量84
2.8.4 瞬態(tài)光輻射參數(shù)校準(zhǔn)85
2.9 光度計(jì)量與測試86
2.9.1 光度學(xué)基本概念87
2.9.2 光度學(xué)基準(zhǔn)89
2.9.3 光度計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)90
2.9.4 光度學(xué)測量儀器94
第3章 激光參數(shù)計(jì)量與測試99
3.1 激光計(jì)量參數(shù)99
3.2 激光參數(shù)計(jì)量基準(zhǔn)100
3.2.1 激光功率基準(zhǔn)100
3.2.2 激光能量基準(zhǔn)102
3.3 激光參數(shù)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)104
3.3.1 激光功率標(biāo)準(zhǔn)104
3.3.2 激光能量標(biāo)準(zhǔn)106
3.3.3 脈沖激光峰值功率標(biāo)準(zhǔn)109
3.3.4 激光平均功率和能量標(biāo)準(zhǔn)裝置111
3.4 激光參數(shù)測量技術(shù)112
3.4.1 激光功率能量測試技術(shù)112
3.4.2 高能激光功率與能量測量技術(shù)117
3.4.3 絕對式測量法中影響因素分析120
3.4.4 激光空域特性測量技術(shù)131
3.4.5 強(qiáng)激光空域特性測量技術(shù)135
3.4.6 激光時域特性測試138
3.4.7 激光損傷閾值測試142
3.5 激光測距機(jī)參數(shù)校準(zhǔn)143
3.5.1 激光測距機(jī)概述143
3.5.2 最大測程校準(zhǔn)145
3.5.3 最小測程校準(zhǔn)149
3.5.4 測距準(zhǔn)確度校準(zhǔn)149
第4章 光輻射探測器參數(shù)計(jì)量與測試151
4.1 光輻射探測器概述151
4.2 光輻射探測器性能的主要表征量151
4.2.1 描述探測器靈敏度特性的主要表征量152
4.2.2 描述探測器探測弱信號能力的主要表征量153
4.2.3 其他表征量154
4.3 光輻射探測器光譜響應(yīng)度測量155
4.3.1 相對光譜響應(yīng)度測量155
4.3.2 絕對光譜響應(yīng)度測量158
4.4 探測器面響應(yīng)度均勻性測量158
4.4.1 探測器面響應(yīng)度均勻性的定義158
4.4.2 探測器面響應(yīng)度均勻性的測量原理及裝置159
4.5 光輻射探測器響應(yīng)度直線性測量160
4.5.1 雙孔法測量160
4.5.2 多光源法測量161
4.6 光輻射探測器時間特性與溫度特性測量162
4.6.1 時間特性測量162
4.6.2 溫度特性測量162
4.7 紅外探測器參數(shù)測量163
4.7.1 黑體響應(yīng)率測量163
4.7.2 噪聲測量165
4.7.3 探測率測量166
4.7.4 噪聲等效功率測量166
4.7.5 頻率響應(yīng)測量166
4.7.6 紅外探測器參數(shù)測量裝置的校準(zhǔn)167
4.8 紅外焦平面陣列參數(shù)測量167
4.8.1 特性參數(shù)及相關(guān)量的定義168
4.8.2 響應(yīng)率、噪聲、探測率和有效像元率等參數(shù)測量170
4.8.3 噪聲等效溫差測試175
4.8.4 動態(tài)范圍測試176
4.8.5 相對光譜響應(yīng)測試177
4.8.6 串音測試178
第5章 光學(xué)材料參數(shù)計(jì)量與測試180
5.1 光學(xué)材料折射率和色散系數(shù)計(jì)量測試180
5.1.1 光學(xué)材料折射率和色散系數(shù)測量方法180
5.1.2 光學(xué)材料折射率計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)187
5.2 光學(xué)材料折射率溫度系數(shù)測量188
5.2.1 光學(xué)玻璃折射率溫度系數(shù)測量188
5.2.2 紅外材料折射率溫度系數(shù)測量190
5.3 光學(xué)材料應(yīng)力雙折射計(jì)量測試192
5.3.1 簡易偏光儀法192
5.3.2 單1/4波片法194
5.3.3 數(shù)字移相全場測量法195
5.3.4 光學(xué)材料應(yīng)力雙折射計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)196
5.4 光學(xué)材料傳輸特性測量198
5.4.1 透射比測量199
5.4.2 光譜反射比測量200
5.4.3 光吸收系數(shù)測量202
5.4.4 光學(xué)材料散射系數(shù)測量203
5.5 光學(xué)材料均勻性測量204
5.5.1 平行光管測試方法204
5.5.2 干涉測量方法205
5.6 光學(xué)材料其他參數(shù)測量206
5.6.1 光學(xué)材料消光比測量207
5.6.2 光學(xué)材料線膨脹系數(shù)測量207
5.6.3 光學(xué)材料條紋度測量208
5.6.4 光學(xué)玻璃氣泡度檢測208
5.6.5 材料非線性光學(xué)性能測試209
5.6.6 橢圓偏振儀測量薄膜厚度和折射率211
第6章 成像光學(xué)計(jì)量與測試215
6.1 成像光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價215
6.1.1 像質(zhì)評價基本概念215
6.1.2 光學(xué)傳遞函數(shù)基本概念221
6.1.3 光學(xué)傳遞函數(shù)基本測量方法230
6.1.4 光學(xué)傅里葉分析法傳遞函數(shù)測量裝置231
6.1.5 光電傅里葉分析法傳遞函數(shù)測量裝置233
6.1.6 數(shù)字傅里葉分析法238
6.1.7 光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置的檢定239
6.1.8 光學(xué)傳遞函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置244
6.1.9 離散采樣系統(tǒng)光學(xué)傳遞函數(shù)測量246
6.2 光學(xué)元件波像差測量248
6.2.1 光的干涉基礎(chǔ)248
6.2.2 光學(xué)元件波像差標(biāo)準(zhǔn)裝置250
6.2.3 紅外光學(xué)零件表面面形及光學(xué)系統(tǒng)波像差測量254
6.3 光學(xué)系統(tǒng)和元件主要參數(shù)測量257
6.3.1 焦距測量257
6.3.2 相對孔徑測量258
6.3.3 視場測量259
6.3.4 透過率測量260
6.3.5 雜光系數(shù)測量261
第7章 微小光學(xué)計(jì)量與測試263
7.1 集成光學(xué)計(jì)量與測試263
7.1.1 集成光學(xué)概述263
7.1.2 集成光波導(dǎo)參數(shù)測量264
7.1.3 鈮酸鋰集成光學(xué)器件參數(shù)測量268
7.2 梯度折射率光學(xué)計(jì)量與測試272
7.2.1 梯度折射率光學(xué)概述272
7.2.2 自聚焦透鏡折射率分布測量272
7.2.3 自聚焦透鏡數(shù)值孔徑測量276
7.2.4 自聚焦透鏡焦距測量277
7.2.5 自聚焦透鏡聚焦光斑測量278
7.3 光導(dǎo)纖維參數(shù)測量279
7.3.1 纖維光學(xué)概述279
7.3.2 光纖元件數(shù)值孔徑的測量280
7.3.3 光纖元件透射比測量281
7.3.4 光纖元件刀口響應(yīng)測量282
7.3.5 光導(dǎo)纖維損耗測量283
7.3.6 光纖色散測量285
7.3.7 單模光纖截止波長測量286
7.4 偏振保持光纖參數(shù)測量288
7.4.1 偏振保持光纖概述288
7.4.2 保偏光纖偏振串音測量289
7.4.3 保偏光纖拍長測量290
7.5 單模光纖偏振模色散測量292
7.5.1 偏振模色散的產(chǎn)生292
7.5.2 偏振模色散測量方法293
第8章 微光夜視參數(shù)計(jì)量與測試296
8.1 微光夜視技術(shù)概述296
8.2 微光像增強(qiáng)器參數(shù)測量296
8.2.1 光陰極光靈敏度和輻射靈敏度測量297
8.2.2 亮度增益測量298
8.2.3 等效背景照度測量299
8.2.4 輸出信噪比測量300
8.2.5 調(diào)制傳遞函數(shù)測量302
8.2.6 分辨力測量303
8.2.7 放大率測量309
8.2.8 畸變測量310
8.3 微光夜視儀參數(shù)測量310
8.3.1 微光夜視儀視場測量311
8.3.2 微光夜視儀視放大率測量313
8.3.3 微光夜視儀相對畸變測量314
8.3.4 微光夜視儀分辨力測量315
8.3.5 微光夜視儀的亮度增益測量317
8.4 微光夜視鏡參數(shù)測量318
8.4.1 微光夜視鏡視場測量318
8.4.2 微光夜視鏡放大率測量318
8.4.3 微光夜視鏡畸變測量319
8.4.4 微光夜視鏡分辨力測量319
8.4.5 微光夜視鏡亮度增益測量320
8.4.6 微光夜視鏡光軸平行性測量320
參考文獻(xiàn)321