武器裝備可靠性評定方法

第1章 引言
第2章 可靠性概念及指標
2.1 可靠性的基本概念
2.1.1 可靠性的定義
2.1.2 失效分布函數(shù)與平均壽命
2.1.3 可靠度函數(shù)與可靠壽命
2.1.4 失效率函數(shù)
2.1.5 任務可靠性與基本可靠性
2.1.6 固有可靠性與使用可靠性
2.1.7 條件概率、全概率公式與貝葉斯公式
2.2 可靠性指標體系
2.2.1 指標體系的定義
2.2.2 指標體系選取的原則
2.3 導彈武器的可靠性與維修性指標
2.3.1 與戰(zhàn)備完好性有關(guān)的可靠性與維修性參數(shù)
2.3.2 與任務成功性有關(guān)的可靠性與維修性參數(shù)
2.3.3 與維修人力費用有關(guān)的可靠性與維修性參數(shù)
2.3.4 與裝備保障費用有關(guān)的可靠性與維修性參數(shù)
第3章 失效概率分布
3.1 離散型失效概率分布
3.1.1 兩點分布
3.1.2 二項分布
3.1.3 泊松分布
3.1.4 超幾何分布
3.1.5 幾何分布與負二項分布
3.2 連續(xù)模型失效概率分布
3.2.1 均勻分布
3.2.2 指數(shù)分布
3.2.3 威布爾分布
3.2.4 正態(tài)分布
3.2.5 伽馬分布
3.3 關(guān)于選擇失效分布類型的注釋
第4章 數(shù)據(jù)類型與數(shù)據(jù)折合
4.1 數(shù)據(jù)類型
4.1.1 完全數(shù)據(jù)
4.1.2 Ⅱ型截尾
4.1.3 Ⅰ型截尾
4.1.4 區(qū)間數(shù)據(jù)
4.2 數(shù)據(jù)折合
4.2.1 相同產(chǎn)品的數(shù)據(jù)折合——環(huán)境因子
4.2.2 相似產(chǎn)品的數(shù)據(jù)折合
4.2.3 同類產(chǎn)品的數(shù)據(jù)折合
第5章 單元可靠性評定
5.1 二項分布單元可靠性評定
5.1.1 點估計
5.1.2 區(qū)間估計
5.2 指數(shù)分布單元可靠性評定
5.2.1 單參數(shù)指數(shù)分布
5.2.2 兩參數(shù)指數(shù)分布
5.3 威布爾估計單元可靠性評定
5.3.1 兩參數(shù)威布爾分布
5.3.2 三參數(shù)威布爾分布
5.4 正態(tài)分布單元可靠性評定
5.4.1 性能可靠性
5.4.2 壽命可靠性
5.4.3 結(jié)構(gòu)可靠性
5.4.4 極小子樣可靠性
5.4.5 防熱可靠性
第6章 系統(tǒng)可靠性評定
6.1 不同成敗型單元串聯(lián)系統(tǒng)
6.1.1 MML方法
6.1.2 L-M方法
6.1.3 修正的L-M方法
6.2 相同成敗型單元串聯(lián)系統(tǒng)
6.2.1 成敗型近似置信下限
6.2.2 指數(shù)壽命型近似置信下限
6.3 不同指數(shù)壽命型串聯(lián)系統(tǒng)
6.3.1 R的加權(quán)一算術(shù)平均近似置信下限
6.3.ZM法
6.3.3 近似最優(yōu)置信下限
6.3.4 定數(shù)截尾M法
6.3.5 不同指數(shù)壽命型單元串聯(lián)系統(tǒng)的MML法
6.4 相同指數(shù)壽命型單元串聯(lián)系統(tǒng)
6.4.1 成敗型近似置信下限
6.4.2 指數(shù)壽命型近似置信下限
6.5 不同正態(tài)型單元串聯(lián)系統(tǒng)
6.6 相同正態(tài)型單元串聯(lián)系統(tǒng)
6.6.1 成敗型近似置信下限
6.6.2 指數(shù)壽命型近似置信下限
6.7 相同成敗型單元并聯(lián)系統(tǒng)
6.7.1 成敗型近似置信下限
6.7.2 指數(shù)壽命型近似置信下限
6.8 相同指數(shù)壽命型單元并聯(lián)系統(tǒng)
6.8.1 成敗型近似置信下限
6.8.2 指數(shù)壽命型近似置信下限
6.9 相同成敗型單元的k／n（G）系統(tǒng)
6.9.1 成敗型近似置信下限
6.9.2 指數(shù)壽命型近似置信下限
6.10 相同指數(shù)壽命型單元的k／m（G）系統(tǒng)
6.10.1 成敗型近似置信下限
6.10.2 指數(shù)壽命型近似置信下限
6.11 不同單元組成的系統(tǒng)與相同單元組成的系統(tǒng)的對比
6.12 不同類型可靠性數(shù)據(jù)計算與轉(zhuǎn)換
6.12.1 利用產(chǎn)品可靠度R的極大似然估計E一R及其漸近方差的極大似然估計D進行轉(zhuǎn)換
……
第7章 可靠性評定中的假設檢驗
附表
參考文獻