近代物理實(shí)驗(yàn)教程（第二版）

第二版前言
第一版序
第一版前言
單元0 誤差分析與數(shù)據(jù)處理
0.1 測(cè)量誤差和不確定度概念
0.2 隨機(jī)變量的概率分布
0.3 隨機(jī)誤差的統(tǒng)計(jì)分析
0.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果的不確定度
0.5 分布規(guī)律的X2檢驗(yàn)
0.6 最小二乘擬合
0.7 系統(tǒng)誤差的限制和消除
單元1 原子物理
1.1 弗蘭克一赫茲實(shí)驗(yàn)
1.2 鈉原子光譜
1.3 密立根油滴實(shí)驗(yàn)
1.4 塞曼效應(yīng)
1.5 拉曼光譜
1.6 氫與氘原子光譜
單元2原子核物理
2.0 核物理實(shí)驗(yàn)技術(shù)基礎(chǔ)知識(shí)
2.1 蓋革-米勒計(jì)數(shù)管的特性及放射性衰變的統(tǒng)計(jì)規(guī)律
2.2 y能譜的測(cè)量
2.3 符合測(cè)量
2.4 用快速電子驗(yàn)證相對(duì)論效應(yīng)
單元3 激光、光信息處理和光學(xué)測(cè)量
3.1 激光器特性及其參數(shù)的測(cè)量
3.2 He—Ne激光器縱模間隔測(cè)量
3.3 全息技術(shù)
3.4 光學(xué)信息處理
3.5 橢圓偏振法測(cè)量薄膜厚度、折射率和金屬?gòu)?fù)折射率
3.6 光拍頻法測(cè)量光的速度
3.7 各向異性晶體光學(xué)性質(zhì)的觀測(cè)和研究
單元4 真空技術(shù)
4.1 高真空的獲得與測(cè)量
4.2 真空鍍膜
4.3 蒸氣冷凝法制作納米顆粒
4.4 等離子體特性和參數(shù)測(cè)量
單元5 x射線衍射技術(shù)
5.0 X射線衍射的基礎(chǔ)知識(shí)
5.1 立方晶系點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定
5.2 勞厄相法測(cè)定單晶取向
單元6 低溫和固體物理
6.0 低溫基礎(chǔ)知識(shí)
6.1 電阻溫度關(guān)系和減壓降溫技術(shù)
6.2 高溫超導(dǎo)體基本特性的測(cè)量
6.3 用電容-電壓法測(cè)半導(dǎo)體雜質(zhì)濃度分布
6.4 霍爾效應(yīng)
6.5 鐵電體電滯回線及居里溫度的測(cè)量
6.6 掃描隧道顯微鏡實(shí)驗(yàn)
單元7 聲學(xué)
7.1 超聲探傷和超聲速測(cè)量
7.2 噪聲測(cè)量和頻譜分析
單元8 微波技術(shù)
8.0 微波基本知識(shí)
8.1 微波的傳輸特性和基本測(cè)量
8.2 微波介質(zhì)特性的測(cè)量
8.3 大氣衛(wèi)星云圖的接收和分析
單元9 磁共振技術(shù)
9.0 磁共振基礎(chǔ)知識(shí)
9.1 核磁共振的穩(wěn)態(tài)吸收
9.2 脈沖核磁共振法測(cè)量弛豫時(shí)間
9.3 電子自旋共振
9.4 光泵磁共振
9.5 核磁共振成像實(shí)驗(yàn)
單元10 計(jì)算機(jī)模擬和微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)
10.1 計(jì)算機(jī)數(shù)值模擬實(shí)驗(yàn)
10.2 鎖相放大器實(shí)驗(yàn)
10.3 信號(hào)取樣平均實(shí)驗(yàn)
10.4 單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)
附表
Ⅰ 中華人民共和國(guó)法定計(jì)量單位
Ⅱ 物理學(xué)常量表
Ⅲ 標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)N(x；0，1)數(shù)值表
Ⅳ t分布的置信系數(shù)tξ數(shù)值表
Ⅴ x2分布的x2ξ(v)數(shù)值表