X射線衍射分析技術(shù)

緒論
第1章　X射線物理學(xué)基礎(chǔ)
1.1 x射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)
1.2 x射線譜
1.3 x射線與物質(zhì)的相互作用
1.4 x射線的衰減規(guī)律及其應(yīng)用
1.5 x射線的探測與防護(hù)
習(xí)題
第2章　晶體和空間點(diǎn)陣
2.1　晶體的概念
2.2　對稱結(jié)構(gòu)與點(diǎn)陣
2.3　晶胞、晶系和空間點(diǎn)陣形式
2.4　陣點(diǎn)坐標(biāo)、晶向指數(shù)、晶面指數(shù)和晶面間距
2.5　倒易點(diǎn)陣
2.6　晶體的投影
2.7　晶帶和晶體的標(biāo)準(zhǔn)極圖
2.8　晶體的對稱性
2.9　點(diǎn)群
2.10　空間群
2.11　晶體的外形
2.12　晶體結(jié)構(gòu)符號
習(xí)題
第3章　X射線衍射方向
　3.1　勞厄方程
　3.2　布拉格方程
　3.3　衍射矢量方程和厄瓦爾德圖解
　3.4　X射線衍射實(shí)驗(yàn)方法概述
習(xí)題
第4章　X射線衍射強(qiáng)度
4.1 晶胞中原子位置與衍射線束強(qiáng)度間的關(guān)系
4.2　一個(gè)電子的散射
4.3　一個(gè)原子的散射
4.4　一個(gè)晶胞對x射線的散射
4.5　影響衍射強(qiáng)度的幾種因子
4.6　粉末晶體衍射強(qiáng)度計(jì)算
習(xí)題
第5章　X射線衍射方法
5.1　X射線源
5.2　測角儀
5.3　單色器
5.4　輻射探測器
5.5　測量系統(tǒng)
5.6　試樣的制備方法
5.7　儀器條件的準(zhǔn)備
5.8　具體實(shí)驗(yàn)條件的選定
5.9　衍射數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理的自動(dòng)化
習(xí)題
第6章　X射線物相分析
6.1　物相定性分析原理
6.2　粉末衍射數(shù)據(jù)庫
6.3　定性相分析的一般步驟
6.4　物相定量分析
習(xí)題
第7章　點(diǎn)陣常數(shù)的精確測定
7.1　X射線衍射圖譜指標(biāo)化
7.2　利用計(jì)算機(jī)和專業(yè)軟件進(jìn)行指標(biāo)化
7.3　晶胞參數(shù)的精確測定
7.4　精確測定晶胞參數(shù)的方法
7.5　點(diǎn)陣常數(shù)精確測定的應(yīng)用
7.6　利用專用軟件計(jì)算晶格常數(shù)
習(xí)題
第8章　宏觀殘余應(yīng)力的測定　
第9章　晶粒尺寸和微觀應(yīng)力的測定　
第10章　全譜擬合與Rietveld精修原理和計(jì)算軟件
附錄1　質(zhì)量吸收系數(shù)
附錄2　原子散射因子
附錄3　角因子（洛倫茲－偏振因子）
參考文獻(xiàn)