嵌入式軟件測(cè)試

定　價(jià)：￥28.00

作　者：	康一梅等著
出版社：	機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	嵌入式系統(tǒng)系列教材
標(biāo)　簽：	計(jì)算機(jī)體系結(jié)構(gòu)

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ISBN：	9787111239956	出版時(shí)間：	2008-07-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	229	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)重點(diǎn)討論嵌入式軟件測(cè)試的相關(guān)知識(shí)。主要內(nèi)容包括：嵌入式軟件測(cè)試的相關(guān)基本概念、嵌入式軟件測(cè)試的生命周期、嵌入式軟件測(cè)試的相關(guān)技術(shù)、嵌入式軟件的測(cè)試過(guò)程、嵌入式軟件測(cè)試環(huán)境的搭建以及常用的嵌入式軟件自動(dòng)化測(cè)試工具及管理工具。本書(shū)從普通的軟件測(cè)試人手來(lái)介紹嵌入式軟件測(cè)試，并輔以實(shí)例說(shuō)明嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)的具體應(yīng)用。本書(shū)適合作為高等院校計(jì)算機(jī)、嵌入式及相關(guān)專(zhuān)業(yè)的本科生及研究生的教材，也可供廣大嵌入式軟件開(kāi)發(fā)、維護(hù)領(lǐng)域的技術(shù)人員參考。

作者簡(jiǎn)介

　　康一梅博士，北京航空航天大學(xué)教授，軟件學(xué)院教學(xué)副院長(zhǎng)，中國(guó)電子學(xué)會(huì)嵌入式專(zhuān)委會(huì)委員。獲兩項(xiàng)教學(xué)成果獎(jiǎng)，出版教材2本，發(fā)表論文30余篇。曾任北京首創(chuàng)前鋒信息科技有限公司技術(shù)總監(jiān)、亞訊數(shù)碼電子有限公司研發(fā)部經(jīng)理，北京金益康新技術(shù)有限公司技術(shù)總監(jiān)兼研發(fā)中心總經(jīng)理等職，曾負(fù)責(zé)20多項(xiàng)產(chǎn)品、工程的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，擁有兩項(xiàng)軟件產(chǎn)品知識(shí)產(chǎn)權(quán)，所設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品擁有幾十萬(wàn)用戶(hù)，銷(xiāo)售額數(shù)億。

圖書(shū)目錄

叢書(shū)序
叢書(shū)前言
前言
教學(xué)建議
第1章嵌入式軟件概述
1.1 嵌入式系統(tǒng)概述
1.1.1 嵌入式系統(tǒng)的組成
1.1.2 嵌入式系統(tǒng)的特點(diǎn)
1.1.3 嵌入式系統(tǒng)的分類(lèi)
1.2 嵌入式系統(tǒng)硬件基礎(chǔ)知識(shí)
1.3 嵌入式系統(tǒng)軟件基礎(chǔ)知識(shí)
1.3.1 嵌入式軟件的分類(lèi)
1.3.2 嵌入式操作系統(tǒng)
1.4 嵌入式軟件工程
1.4.1 可行性分析和需求分析階段
1.4.2 設(shè)計(jì)階段
1.4.3 實(shí)現(xiàn)階段
1.4.4 測(cè)試階段
1.4.5 維護(hù)階段
1.4.6 嵌入式軟件的開(kāi)發(fā)
1.5 嵌入式軟件設(shè)計(jì)的質(zhì)量
1.5.1 嵌入式軟件開(kāi)發(fā)的質(zhì)量問(wèn)題
1.5.2 嵌入式軟件的質(zhì)量模型
1.5.3 提高嵌入式軟件的質(zhì)量
第2章軟件測(cè)試基礎(chǔ)
2.1 軟件測(cè)試的歷史
2.2 軟件測(cè)試的基本概念
2.3 軟件測(cè)試的對(duì)象
2.4 軟件測(cè)試的信息流
2.5 軟件測(cè)試的目的和作用
2.5.1 質(zhì)量改進(jìn)
2.5.2 驗(yàn)證和確認(rèn)
2.5.3 可靠性評(píng)估
2.6 軟件測(cè)試的特點(diǎn)
2.7 軟件測(cè)試原則
2.8 軟件測(cè)試的分類(lèi)
2.9 軟件測(cè)試技術(shù)
2.9.1 靜態(tài)測(cè)試
2.9.2 動(dòng)態(tài)測(cè)試
2.10 軟件測(cè)試的級(jí)別
2.10.1 單元測(cè)試
2.10.2 組件測(cè)試
2.10.3 集成測(cè)試
2.10.4 確認(rèn)測(cè)試
2.10.5 系統(tǒng)測(cè)試
2.10.6 驗(yàn)收測(cè)試
第3章嵌入式軟件測(cè)試基礎(chǔ)
3.1 嵌入式軟件測(cè)試的特點(diǎn)
3.2 嵌入式軟件統(tǒng)一測(cè)試模型
3.3 嵌入式軟件目標(biāo)機(jī)環(huán)境測(cè)試和宿主機(jī)環(huán)境測(cè)試
3.4 嵌入式軟件的測(cè)試步驟概述
3.4.1 系統(tǒng)平臺(tái)測(cè)試
3.4.2 單元模塊測(cè)試
3.4.3 集成測(cè)試
3.4.4 系統(tǒng)測(cè)試
3.4.5 確認(rèn)測(cè)試
3.5 嵌入式軟件測(cè)試和普通軟件測(cè)試的區(qū)別
第4章嵌入式軟件測(cè)試的生命周期
4.1 V模型和多V模型
4.1.1 軟件開(kāi)發(fā)V模型
4.1.2 嵌入式軟件開(kāi)發(fā)V模型
4.1.3 嵌入式軟件開(kāi)發(fā)多V模型
4.2 需求分析階段
4.3 概要設(shè)計(jì)階段
4.4 詳細(xì)設(shè)計(jì)階段
4.5 編碼和測(cè)試執(zhí)行階段
4.5.1 單元/模塊測(cè)試階段
4.5.2 集成/系統(tǒng)測(cè)試階段
4.5.3 確認(rèn)測(cè)試階段
4.6 迭代模型
4.7 嵌入式軟件的測(cè)試步驟
4.7.1 單元測(cè)試
4.7.2 集成測(cè)試
4.7.3 確認(rèn)測(cè)試
4.7.4 系統(tǒng)測(cè)試
4.8 嵌入式軟件測(cè)試策略總結(jié)
第5章嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)
5.1 軟件靜態(tài)測(cè)試
5.1.1 代碼檢查
5.1.2 靜態(tài)分析
5.2 軟件系統(tǒng)測(cè)試
5.2.1 等價(jià)類(lèi)劃分
5.2.2 邊界值分析
5.2.3 因果圖法
5.2.4 猜錯(cuò)法
5.2.5 系統(tǒng)測(cè)試的策略
5.3 軟件動(dòng)態(tài)測(cè)試
5.3.1 典型的白盒測(cè)試技術(shù)
5.3.2 典型的黑盒測(cè)試技術(shù)
5.4 嵌入式軟件的特殊測(cè)試技術(shù)
5.4.1 狀態(tài)轉(zhuǎn)換測(cè)試
5.4.2 控制流測(cè)試
第6章軟件測(cè)試過(guò)程管理與實(shí)踐
6.1 測(cè)試需求分析
6.1.1 原始需求提取
6.1.2 產(chǎn)品測(cè)試規(guī)格說(shuō)明分析
6.1.3 測(cè)試規(guī)格說(shuō)明分配分解
6.2 測(cè)試計(jì)劃
6.2.1 任務(wù)分解與工作量估計(jì)
6.2.2 軟件測(cè)試計(jì)劃
6.2.3 測(cè)試計(jì)劃制定
6.3 測(cè)試設(shè)計(jì)
6.3.1 軟件設(shè)計(jì)評(píng)審
6.3.2 測(cè)試設(shè)計(jì)
6.3.3 測(cè)試方案設(shè)計(jì)
6.4 測(cè)試用例設(shè)計(jì)
6.4.1 編寫(xiě)測(cè)試用例的步驟
6.4.2 測(cè)試用例的編寫(xiě)要求
6.4.3 測(cè)試用例編寫(xiě)/設(shè)計(jì)技術(shù)
6.4.4 測(cè)試用例模板
6.5 測(cè)試執(zhí)行
6.5.1 編碼階段
6.5.2 穩(wěn)定階段
6.5.3 發(fā)布和驗(yàn)收階段
6.5.4 測(cè)試執(zhí)行日志
6.5.5 測(cè)試執(zhí)行報(bào)告
6.5.6 測(cè)試總結(jié)報(bào)告
6.6 軟件測(cè)試缺陷管理
6.6.1 軟件缺陷跟蹤過(guò)程
6.6.2 軟件缺陷報(bào)告
第7章嵌入式軟件測(cè)試環(huán)境
7.1 嵌入式軟件測(cè)試環(huán)境綜述
7.1.1 嵌入式軟件仿真測(cè)試環(huán)境
7.1.2 嵌入式軟件測(cè)試環(huán)境的體系結(jié)構(gòu)
7.1.3 交叉測(cè)試方式
7.1.4 插樁技術(shù)
7.2 各測(cè)試階段需要的測(cè)試環(huán)境
7.2.1 模型階段
7.2.2 原型階段
7.2.3 臨近生產(chǎn)階段
7.2.4 開(kāi)發(fā)后階段
7.3 嵌入式軟件測(cè)試環(huán)境的建立
7.4 嵌入式軟件測(cè)試環(huán)境建立實(shí)例
第8章軟件測(cè)試自動(dòng)化
8.1 LOGISCOPE
8.1.1 LOGISCOPE概述
8.1.2 LOGISCOPE的優(yōu)點(diǎn)
8.1.3 LOGISCOPE的使用
8.2 CodeTest
8.2.1 CodeTest概述
8.2.2 CodeTest Native
8.2.3 CodeTest SoftwareInCircuit
8.2.4 CodeTest HardwareInCircuit
8.2.5 CodeTest的功能
8.2.6 Tornado環(huán)境中CodeTest的使用
8.3 CRESTS/ATAT
8.3.1 CRESTS/ATAT概述
8.3.2 CRESTS/ATAT的功能
8.3.3 CRESTS/ATAT的設(shè)計(jì)原理
8.3.4 CRESTS/ATAT的使用
8.3.5 其他支持測(cè)試軟件的介紹
8.4 TestManager
8.4.1 TestManager概述
8.4.2 TestManager的使用
參考文獻(xiàn)