電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標(biāo)準(zhǔn)匯編

定　價：￥138.00

作　者：	中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
出版社：	中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	電工電子

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ISBN：	9787506637664	出版時間：	2005-10-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	760	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》（第三版），共匯集了截至2005年7月底我國正式發(fā)布實施的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方面的國家標(biāo)準(zhǔn)共計75項，涉及總則、術(shù)語、各種試驗方法、試驗導(dǎo)則及環(huán)境參數(shù)測量方法等。其中1999年以來重新制修訂的有19項。GB/T 6999—1986《環(huán)境試驗用相對濕度查算表》因篇幅原因，　收入在《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》（第二版）中。為便于使用，書后附有這些標(biāo)準(zhǔn)與國際標(biāo)準(zhǔn)的采用關(guān)系以及與舊版標(biāo)準(zhǔn)的代替關(guān)系表。

作者簡介

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圖書目錄

GB/T 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則
GB/T 2422—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語
GB/T 2423.1—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db：交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗EC和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）
GB/T 2423.8—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落
GB/T 2423.9—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱
GB/T 2423.10—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗FC和導(dǎo)則：振動（正弦）
GB/T 2423.11—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fd：寬頻帶隨機振動——一般要求
GB/T 2423.12—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fda：寬頻帶隨機振動——高再現(xiàn)性
GB/T 2423.13—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fdb：寬頻帶隨機振動—中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗FdC：寬頻帶隨機振動——低再現(xiàn)性
GB/T 2423.15—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J和導(dǎo)則：長霉
GB/T 2423.17—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka：鹽霧試驗方法
GB/T 2423.18—2001　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.19—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗KC：接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
GB/T 2423.20—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd：接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
GB/T 2423.21—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法
GB/T 2423.22—2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 2423.23—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Q：密封
GB/T 2423.24—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射
GB/T 2423.25—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.27—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
GB/T 2423.28—1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗T：錫焊試驗方法
GB/T 2423.29—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗U：引出端及整體安裝件強度
GB/T 2423.30—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.31—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法
GB/T 2423.32—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法
GB/T 2423.33—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗KCa：高濃度二氧化硫試驗
GB/T 2423.34—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法
GB/T 2423.35—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AFC：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.36—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFC：散熱和非散熱樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.37—1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗L：砂塵試驗方法
GB/T 2423.38—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗R：水試驗方法
GB/T 2423.39—1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗EC：彈跳試驗方法
GB/T 2423.40—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41—1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風(fēng)壓試驗方法
GB/T 2423.42—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.43—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（FC和Fb）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T 2423.44—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eg：撞擊彈簧錘
GB/T 2423.45—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.46—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ef：撞擊擺錘
GB/T 2423.47—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fg：聲振
GB/T 2423.48—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ff：振動——時間歷程法
GB/T 2423.49—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fe：振動——正弦拍頻法
GB/T 2423.50—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要
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