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數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗與綜合實(shí)訓(xùn)

數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗與綜合實(shí)訓(xùn)

定 價:¥17.50

作 者: 邱寄帆、唐程山
出版社: 人民郵電出版社
叢編項: 21世紀(jì)高職高專電子技術(shù)規(guī)劃教材
標(biāo) 簽: 數(shù)字電子技術(shù)

ISBN: 9787115134929 出版時間: 2005-09-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 160 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  本書內(nèi)容包括數(shù)字電子技術(shù)實(shí)訓(xùn)基礎(chǔ)知識、數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗、數(shù)字電路綜合實(shí)訓(xùn)和附錄四個部分?;A(chǔ)知識部分包括實(shí)驗室的安全操作規(guī)程、實(shí)驗常用材料和工具的使用、實(shí)驗方法、實(shí)驗測試手段、常見故障的診斷與排除;基礎(chǔ)實(shí)驗部分的20個數(shù)字電路實(shí)驗課題(包括驗證性實(shí)驗、設(shè)計性實(shí)驗、仿真實(shí)驗)包含實(shí)驗的意義目的和要求、一般方法、實(shí)驗考核等內(nèi)容;綜合實(shí)訓(xùn)部分的6個綜合實(shí)訓(xùn)課題包含綜合實(shí)訓(xùn)的基本任務(wù)與基本要求、基本步驟和方法、排除故障訓(xùn)練與考核等內(nèi)容;附錄分別介紹了數(shù)字邏輯實(shí)驗儀、示波器與數(shù)字萬用表、實(shí)驗室常用電阻電容的型號及其主要性能參數(shù)、常用數(shù)字集成電路型號及外引線排列圖、部分?jǐn)?shù)字集成電路功能等內(nèi)容。本書作為高職高專電子、電氣、計算機(jī)、自動控制、機(jī)電一體化等專業(yè)的教材,也可供從事電子技術(shù)工作的工程技術(shù)人員參考使用。

作者簡介

暫缺《數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗與綜合實(shí)訓(xùn)》作者簡介

圖書目錄

第1章 數(shù)字電子技術(shù)實(shí)訓(xùn)基礎(chǔ)知識 1
1.1 實(shí)驗室的安全操作規(guī)程 1
1.1.1 人身安全 1
1.1.2 儀器、設(shè)備安全 1
1.2 數(shù)字電路實(shí)驗常用器材和工具的使用 2
1.2.1 常用器材 2
1.2.2 常用工具 3
1.3 數(shù)字電路的實(shí)驗方法 3
1.3.1 TTL與CMOS數(shù)字集成電路的使用規(guī)則 4
1.3.2 TTL與CMOS電路的主要電氣參數(shù)指標(biāo) 5
1.3.3 數(shù)字電路的功能測試方法 7
1.3.4 數(shù)字電路的實(shí)驗測試手段 8
1.3.5 從實(shí)驗原理圖畫接線圖的方法 9
1.4 數(shù)字電路常見故障的診斷與排除 10
1.4.1 數(shù)字電路常見故障 10
1.4.2 數(shù)字電路常見故障的檢查與排除方法 11第2章 數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗 14
2.1 數(shù)字電路實(shí)驗的意義、目的、要求 14
2.1.1 實(shí)驗的意義 14
2.1.2 實(shí)驗的目的 14
2.1.3 實(shí)驗的基本要求及實(shí)驗報告的撰寫 15
2.1.4 實(shí)驗的學(xué)習(xí)方法 17
2.2 數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗的一般方法 18
2.2.1 驗證性實(shí)驗 18
2.2.2 設(shè)計性實(shí)驗 18
2.2.3 利用數(shù)字電子技術(shù)CAI課件(DLCCAI)的實(shí)驗 19
2.3 實(shí)驗考核 19
2.3.1 實(shí)驗筆試方法及樣卷 19
2.3.2 實(shí)驗操作考試方法及樣題 20
2.4 數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗課題 24
實(shí)驗一 集成邏輯門電路的功能測試 24
實(shí)驗二 集成邏輯門電路的參數(shù)測試 27
實(shí)驗三 集成門構(gòu)成組合邏輯電路的實(shí)驗分析 29
實(shí)驗四 中規(guī)模譯碼器 31
實(shí)驗五 中規(guī)模數(shù)據(jù)選擇器 33
實(shí)驗六 雙蹤示波器的使用 35
實(shí)驗七 觸發(fā)器 37
實(shí)驗八 觸發(fā)器構(gòu)成的計數(shù)器 40
實(shí)驗九 中規(guī)模計數(shù)器的應(yīng)用 43
實(shí)驗十 計數(shù)、譯碼、顯示綜合實(shí)驗 45
實(shí)驗十一 順序脈沖發(fā)生器 47
實(shí)驗十二 利用集成邏輯門構(gòu)成脈沖電路 49
實(shí)驗十三 集成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器和集成施密特觸發(fā)器 52
實(shí)驗十四 555定時器 54
實(shí)驗十五 模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換和數(shù)/模(D/A)轉(zhuǎn)換及其應(yīng)用 56
實(shí)驗十六 利用DLCCAI分析組合邏輯電路 58
實(shí)驗十七 利用DLCCAI分析組合電路的競爭冒險現(xiàn)象 60
實(shí)驗十八 利用DLCCAI分析觸發(fā)器的邏輯功能 62
實(shí)驗十九 利用DLCCAI分析N進(jìn)制計數(shù)器 65
實(shí)驗二十 利用DLCCAI分析時序邏輯電路 68第3章 數(shù)字電路綜合實(shí)訓(xùn) 72
3.1 數(shù)字電路綜合實(shí)訓(xùn)的基本任務(wù)和基本要求 72
3.1.1 綜合實(shí)訓(xùn)的基本任務(wù) 72
3.1.2 綜合實(shí)訓(xùn)的基本要求 72
3.2 數(shù)字電路綜合實(shí)訓(xùn)的基本步驟和方法 73
3.2.1 綜合實(shí)訓(xùn)的基本步驟 73
3.2.2 綜合實(shí)訓(xùn)的時間安排建議 75
3.2.3 綜合實(shí)訓(xùn)的成績評定方法 76
3.2.4 綜合實(shí)訓(xùn)實(shí)驗文件的標(biāo)準(zhǔn)格式 76
3.3 排除故障訓(xùn)練與考核 78
3.3.1 綜合實(shí)訓(xùn)中常見故障及排除故障的方法 78
3.3.2 排故障考核的方式 79
3.3.3 常考故障、產(chǎn)生原因及其查找方法 79
3.4 綜合實(shí)訓(xùn)課題 82
3.4.1 自動報時數(shù)字鐘 82
3.4.2 籃球比賽計時器 92
3.4.3 簡易數(shù)字頻率計 97
3.4.4 智力競賽搶答器 102
3.4.5 交通控制器 107
3.4.6 數(shù)碼順序、循環(huán)顯示控制器 111附錄A 數(shù)字邏輯實(shí)驗儀 115
附A1 多孔實(shí)驗插座板部分 115
附A2 操作板部分 116
附A3 多路電源部分 119附錄B 示波器與數(shù)字萬用表使用簡介 120
附B1 XJ4328型雙蹤示波器 120
附B1.1 概述 120
附B1.2 面板上各控制件的作用 120
附B1.3 使用方法 122
附B2 DT-830/831數(shù)字萬用表 125
附B2.1 概述 125
附B2.2 主要技術(shù)指標(biāo)(測量范圍) 126
附B2.3 使用方法及注意事項 126附錄C 實(shí)驗室常用數(shù)字電路元器件型號、主要性能參數(shù)及功能 128
附C1 電阻器和電位器 128
附C1.1 電阻器和電位器的型號命名法 128
附C1.2 幾種常用電阻器的特點(diǎn) 128
附C1.3 電阻器的主要性能指標(biāo) 129
附C2 電容器 130
附C2.1 電容器的型號命名法 130
附C2.2 常用電容器的種類和特點(diǎn) 130
附C2.3 電容器的主要性能指標(biāo) 131
附C3 常用數(shù)字集成電路型號及外引線排列圖 132
附C3.1 國產(chǎn)半導(dǎo)體集成電路型號命名法 132
附C3.2 國際TTL/CMOS數(shù)字集成電路主要生產(chǎn)公司和產(chǎn)品型號前綴 132
附C3.3 常用集成電路型號及其外引線排列圖 133
附C3.4 常用TTL數(shù)字集成電路型號及功能 140
附C3.5 常用CMOS數(shù)字集成電路型號及功能 143
附C3.6 部分?jǐn)?shù)字集成電路的功能 145參考文獻(xiàn) 161

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