納米科學(xué)與技術(shù)（機械工程國防科工委十五規(guī)劃教材）

第一章 納米科學(xué)與技術(shù)概述
1.1 納米科學(xué)與技術(shù)的特點
1.2 納米科學(xué)與技術(shù)的發(fā)展
1.3 發(fā)展納米科學(xué)與技術(shù)的理論基礎(chǔ)
1.4 發(fā)展納米科技的重要性和各國納米科技的發(fā)展情況
復(fù)習(xí)思考題
參考文獻
第二章 掃描隧道顯微鏡
2.1 掃描隧道顯微鏡發(fā)明微觀表面形貌檢測技術(shù)的發(fā)展
2.2 掃描隧首顯微鏡的發(fā)明
2.3 掃描隧道顯微鏡的基本工作原理
2.4 掃描隧道效應(yīng)的原理及檢測機理分析
2.5 探針針尖曲率半徑對隧道電流和測量靈敏度的是影響
2.6 STM圖像的分析和各因素對測量結(jié)果的影響
2.7 STM的掃描微進給系統(tǒng)
2.8 STM的掃描微進給系統(tǒng)
2.9 STM的隔振系統(tǒng)
2.10 STM的隔振系統(tǒng)
2.11 STM在不同環(huán)境條件下的應(yīng)用
復(fù)習(xí)思考題
參考文獻
第三章 原子力顯微鏡
3.1 原子力顯微鏡簡介
3.2 原子力顯微鏡的測量和掃描模式
3.3 探針-試件間的用力
3.4 毛細力和AFM在液體中的測量
3.5 影響AFM測量精度的若干問題分析
3.6 AFM的微懸臂和針類
3.7 AFM針尖作用力和懸臂變形位移的測量
3.8 微懸臂的激振
3.9 AFM的多微懸臂陣列
3.10 多功能掃描探針顯微鏡
復(fù)習(xí)思考題
參考文獻
第四章 摩擦力、磁力等顯微鏡
4.1 多種掃描探針顯微鏡的出現(xiàn)和發(fā)展
4.2 FFM的微懸臂及受力形變檢測
4.3 摩擦力微鏡微懸臂及其受力形變檢測
4.4 摩擦力的提出和發(fā)展
4.5 磁力顯微鏡的工作原理
4.6 磁力顯微鏡的工作原理
4.7 測量作用磁力的工作原理
4.8 磁力顯微鏡檢測作用的磁力時受其他力干擾的分析
4.9 磁力顯微鏡檢測作用的磁力時受其他力干擾的分析
4.10 MFM的探針尖和微懸臂
4.11 MFM圖像的分析和其他磁量儀器的對比
4.12 磁力顯微鏡的應(yīng)用舉例
4.13 靜電力微鏡
4.14 其他掃描探針顯微鏡
4.15 光子掃描隧道顯微鏡和近場光學(xué)掃描顯微鏡
復(fù)習(xí)思考題
參考文獻
第五章 納米材料
5.1 納米材料的發(fā)展與納米材料定義
5.2 納米顆粒（微粉）材料
5.3 納米微粒材料（零維納米材料）的制造技術(shù)
5.4 納米薄膜材料
5.5 納米塊體材料
5.6 原子因簇和碳納米管
5.7 納米復(fù)合材料
復(fù)習(xí)思考題
參考文獻
第六章 納米精密測量技術(shù)
第七章 納米超級精密加工和原子操縱技術(shù)
第八章 納米級表層物理力學(xué)性能檢測和納米摩擦學(xué)
第九章 納米電子學(xué)
第十章 微型機械和微型電系統(tǒng)
第十一章 微型機械和微電機系統(tǒng)的制造