單元測(cè)試之道C#版：使用NUnit

定　價(jià)：￥25.00

作　者：	（美）Andrew Hunt，（美）David Thomas著；陳偉柱，陶文譯；陳偉柱譯
出版社：	電子工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	程序員修煉三部曲第二部
標(biāo)　簽：	C#

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ISBN：	9787121006661	出版時(shí)間：	2005-01-01	包裝：	膠版紙
開本：	23cm	頁數(shù)：	180	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　程序員修煉三部曲叢書包含了四本書，介紹了每個(gè)注重實(shí)效的程序員和成功團(tuán)隊(duì)所必備的一些工具。注重實(shí)效的程序員都會(huì)利用反饋來指導(dǎo)開發(fā)，并驅(qū)動(dòng)個(gè)人的開發(fā)流程。編碼的時(shí)候，最有用的反饋來自于“單元測(cè)試”。為了測(cè)試一座橋梁，不會(huì)只在晴朗的天氣，開一輛汽車從橋中間穿過，就認(rèn)為已經(jīng)完成了對(duì)橋梁的測(cè)試。然而許多程序員卻正在使用這種測(cè)試方法——把這種一次順利通過稱為“測(cè)試”。事實(shí)上，注重實(shí)效的程序員應(yīng)該能夠做得比這更好。實(shí)時(shí)的單元測(cè)試會(huì)令開發(fā)過程更加簡單。它能夠讓設(shè)計(jì)更加優(yōu)化，同時(shí)大大減少調(diào)試代碼所花費(fèi)的時(shí)間。從這本書中，您能夠?qū)W到：·編寫更好，更快，并且bug更少的代碼。·找到bug的隱身之處，并且學(xué)會(huì)如何修正這些bug?！ぴ诓皇褂谜麄€(gè)項(xiàng)目的前提下，就可以測(cè)試一小段代碼?！W(xué)會(huì)如何JUnit來簡化測(cè)試代碼?！と绾卧陂_發(fā)小組中展開高效的測(cè)試。本書將借助面向Java的免費(fèi)程序庫JUnit來對(duì)單元測(cè)試進(jìn)行描述；這些技術(shù)同樣也適用于其它語言和框架（本叢書還有一本針對(duì)Java版本的姐妹書籍《單元測(cè)試之道C#版——使用UNnit》）?！冻绦騿T修煉三部曲》是一套由四本小冊(cè)子組成的叢書，旨在幫助解決程序員在日常工作中遇到的一些具體問題的需要，內(nèi)容覆蓋了對(duì)于現(xiàn)代軟件開發(fā)非常重要的基礎(chǔ)性知識(shí)。這套叢書不僅展現(xiàn)了注重實(shí)效的實(shí)際技巧、工具使用，也貫穿了作者們?cè)谄涿鳌冻绦騿T修煉之道：從小工到專家》中所堅(jiān)持的開發(fā)哲學(xué)。而所有這些，都是幫助開發(fā)人員和開發(fā)團(tuán)隊(duì)進(jìn)行正常開發(fā)、不斷進(jìn)步，并帶來高開發(fā)效率的利器。《單元測(cè)試之道C#版——使用NUnit》是本叢書的第二本（本書還有Java版本《單元測(cè)試之道Java版——使用JUnit》），闡述使用自由公開的NUnit程序庫以C#語言進(jìn)行單元測(cè)試，其內(nèi)容也廣泛適用于其他語言和框架程序庫。本書主要內(nèi)容包括：如何更高效地撰寫bug更少的代碼；如何發(fā)現(xiàn)bug的藏身之處以及如何清除bug；如何測(cè)試代碼片斷而不用牽連整個(gè)項(xiàng)目；如何利用NUnit簡化測(cè)試代碼；如何在團(tuán)隊(duì)中高效地進(jìn)行測(cè)試，等等。本書主要適用于具有一定編碼和設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)，但是對(duì)單元測(cè)試并不是很有經(jīng)驗(yàn)的C#程序員。

作者簡介

　　AndrewHunt和DavidThomas是PragmaticProgrammers的合伙人。他們不但為客戶開發(fā)復(fù)雜的軟件系統(tǒng)，而且為開發(fā)者和項(xiàng)目經(jīng)理提供具有實(shí)務(wù)的各種資源。他們的第一本書《程序員修煉之道——從小工到專家》（ThePragmaticProgrammer：Fromjouneymantomaster）是面向技術(shù)和實(shí)踐的暢銷書籍，旨在讓編碼過程更加高效和有趣。相關(guān)圖書單元測(cè)試之道Java版：使用Junit

圖書目錄

第1章  序言  1
1.1  自信地編碼  2
1.2  什么是單元測(cè)試  3
1.3  為什么要使用單元測(cè)試  4
1.4  我需要做什么呢  5
1.5  如何進(jìn)行單元測(cè)試  7
1.6  不寫測(cè)試的借口  7
1.7  本書概要  12
第2章  你的首個(gè)單元測(cè)試  13
2.1  計(jì)劃你的測(cè)試  14
2.2  測(cè)試一個(gè)簡單的方法  15
2.3  使用NUnit來運(yùn)行測(cè)試  16
2.4  運(yùn)行例子  22
2.5  更多的測(cè)試  26
第3章  使用NUnit編寫測(cè)試  27
3.1  構(gòu)建單元測(cè)試  27
3.2  NUnit的各種斷言  29
3.3  NUnit框架  31
3.4  NUnit測(cè)試的組成  33
3.5  自定義NUnit斷言  40
3.6  NUnit和異常  41
3.7  臨時(shí)忽略一些測(cè)試  42
第4章  測(cè)試哪些內(nèi)容：Right-BICEP  45
4.1  結(jié)果是否正確  46
4.2  邊界條件  49
4.3  檢查反向關(guān)聯(lián)  50
4.4  使用其他手段來實(shí)現(xiàn)交叉檢查  50
4.5  強(qiáng)制產(chǎn)生錯(cuò)誤條件  51
4.6  性能特性  52
第5章  CORRECT邊界條件  55
5.1  一致性  56
5.2  有序性  57
5.3  區(qū)間性  59
5.4  引用/耦合性  62
5.5  存在性  63
5.6  基數(shù)性  64
5.7  時(shí)間性  66
5.8  自己動(dòng)手嘗試  68
第6章  使用Mock對(duì)象  73
6.1  簡單的替換  74
6.2  Mock對(duì)象  75
6.3  正規(guī)化 Mock Objects  79
6.4  什么時(shí)候不應(yīng)使用 Mock  93
第7章  好的測(cè)試所具有的品質(zhì)  95
7.1  自動(dòng)化  96
7.2  徹底的  97
7.3  可重復(fù)  99
7.4  獨(dú)立的  99
7.5  專業(yè)的  100
7.6  對(duì)測(cè)試進(jìn)行測(cè)試  102
第8章  在項(xiàng)目中進(jìn)行測(cè)試  105
8.1  把測(cè)試代碼放到哪兒  105
8.2  測(cè)試的禮貌  108
8.3  測(cè)試的頻率  109
8.4  測(cè)試與遺留代碼  110
8.5  測(cè)試與評(píng)審  113
第9章  設(shè)計(jì)話題  117
9.1  面向測(cè)試的設(shè)計(jì)  117
9.2  為測(cè)試而重構(gòu)  119
9.3  測(cè)試類的不變性  130
9.4  測(cè)試驅(qū)動(dòng)的設(shè)計(jì)  132
9.5  測(cè)試無效的參數(shù)  134
附錄A  Gotchas  137
A.1  只要代碼能工作就可以  137
A.2  “冒煙” 測(cè)試  137
A.3  “請(qǐng)讓我的機(jī)器來運(yùn)行”  138
A.4  浮點(diǎn)數(shù)問題  138
A.5  測(cè)試耗費(fèi)的時(shí)間太多了  139
A.6  測(cè)試總是失敗  139
A.7  在某些機(jī)器上測(cè)試失敗  140
附錄B  資源  141
B.1  網(wǎng)絡(luò)資源  141
B.2  參考書目  143
附錄C  注重實(shí)效的單元測(cè)試：總結(jié)  145
附錄D  習(xí)題答案  147
索引  155