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幾何量儀檢定/校準技術

幾何量儀檢定/校準技術

定　價：￥25.00

作　者： 張玉文，陳照聚編著
出版社： 中國計量出版社
叢編項：
標　簽： 測量

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ISBN： 9787502619046 出版時間： 2004-01-01 包裝： 平裝
開本： 26cm 頁數(shù)： 185頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書介紹了各種常用幾何量計量儀器的檢定和校準的方法，內(nèi)容包括形狀、位置誤差及示值誤差的檢定與校準以及不確定度評定等內(nèi)容。

作者簡介

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