試驗(yàn)設(shè)計(jì)與分析及參數(shù)優(yōu)化

定　價(jià)：￥69.00

作　者：	（美）[吳建福]（C. F. Jeff Wu），（美） [邁克爾·哈曼蒂]（Michael Hamada）著；張潤(rùn)楚等譯
出版社：	中國(guó)統(tǒng)計(jì)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

ISBN：	9787503740237	出版時(shí)間：	2003-01-01	包裝：
開本：	26cm	頁數(shù)：	577頁	字?jǐn)?shù)：

　　本書從理論和應(yīng)用兩個(gè)角度深刻地闡述了試驗(yàn)設(shè)計(jì)的基本原理和思想，全面系統(tǒng)介紹了試驗(yàn)設(shè)計(jì)的一般理論和方法，包括各種設(shè)計(jì)的構(gòu)造和分析、建模理論和數(shù)據(jù)分析方法。

暫缺《試驗(yàn)設(shè)計(jì)與分析及參數(shù)優(yōu)化》作者簡(jiǎn)介

暫缺《試驗(yàn)設(shè)計(jì)與分析及參數(shù)優(yōu)化》目錄

掃描二維碼