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當前位置：首頁出版圖書科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)金屬學(xué)、金屬工藝射線檢驗

射線檢驗

射線檢驗

定　價：￥6.56

作　者：	孫萬鈴等編著
出版社：	國防工業(yè)出版社
叢編項：	無損檢測技術(shù)叢書
標　簽：	射線檢驗

ISBN：	9787118004250	出版時間：	1989-06-01	包裝：
開本：	19cm	頁數(shù)：	402頁	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書詳盡地介紹了射線檢驗原理、檢驗設(shè)備、透照工藝、暗房處理、底片的觀察評定和保護等內(nèi)容。本書適合II級射線檢驗人員的自學(xué)，對III級（高級）射線檢驗人員也有一定的參考價值。

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