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射線檢驗

射線檢驗

定　價：￥6.56

作　者： 孫萬鈴等編著
出版社： 國防工業(yè)出版社
叢編項： 無損檢測技術(shù)叢書
標　簽： 射線檢驗
ISBN： 9787118004250 出版時間： 1989-06-01 包裝：
開本： 19cm 頁數(shù)： 402頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書詳盡地介紹了射線檢驗原理、檢驗設(shè)備、透照工藝、暗房處理、底片的觀察評定和保護等內(nèi)容。本書適合II級 射線檢驗人員的自學，對III級（高級）射線檢驗人員也有一定的參考價值。

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