表面與薄膜分析基礎(chǔ)

定　價(jià)：￥3.35

作　者：	（美）[費(fèi)爾德曼]Leonard C.Feldman，（美）[邁耶]James W.Mayer著；嚴(yán)燕來(lái)，蔣平譯
出版社：	復(fù)旦大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	工程材料表面分析

ISBN：	9787309003604	出版時(shí)間：	1989-10-01	包裝：
開(kāi)本：	20cm	頁(yè)數(shù)：	403頁(yè)	字?jǐn)?shù)：

　　本書論述了用于材料表面和薄膜的各種重要的現(xiàn)代分析技術(shù)，包括背散射譜、低能電子衍射、次級(jí)離子質(zhì)譜、廣延X(jué)射線精細(xì)結(jié)構(gòu)、光電子譜及核技術(shù)等。

暫缺《表面與薄膜分析基礎(chǔ)》作者簡(jiǎn)介

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